Výsledky vyhledávání
- 1.0054425 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Schauer, Petr
Decay Time Optimization of YAG:Ce Scintillator for S(T)EM Electron Detector.
[Optimalizace doby doznívání scintilátoru YAG:Ce pro detektor elektronů v S(T)EM.]
Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16 (Vol. 2). Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 655.
[IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
Grant CEP: GA ČR GA102/04/2144
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scintillation detector * electron microscope * cathodoluminescence * YAG:Ce * single crystal scintillator * decay time * afterglow * kinetic model * SEM * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0142513 - 2.0050901 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona
Scanning Low Energy Electron Microscopy.
[Rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie.]
Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16 (Vol. 2). Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 651.
[IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * cathode lens mode * very low energies
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140934 - 3.0050898 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk
Recent advances in SEM instrumentation and methodology.
[Pokroky v přístrojové technice a metodologii pro REM.]
Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16 (Vol. 2). Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 650.
[IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * instrumenattion * methodology * review
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140931 - 4.0049492 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Linhart, Jan - Autrata, Rudolf
Detection of the True Secondary Electrons with a Newly Designed lonization Detector for ESEM.
[Detekce pravých SE v nově navrženém ionizačním detektoru pro EREM.]
Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16. Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 982.
[IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886; GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SE * BSE * detection system
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139869 - 5.0049491 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Černoch, P. - Jirák, Josef - Neděla, Vilém
Signal Detection with Segmental lonization Detector.
[Detekce signálu segmentovým ionizačním detektorem.]
Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16. Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 981.
[IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: segmental ionization detector * image contrast * electrostatic field
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139868