Výsledky vyhledávání
- 1.0315454 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Dvořáková, Marie - Müllerová, Ilona
Signal Collection with Secondary Electron Detectors in SEM.
[Detekce signálu v rastrovacím elektronovém mikroskopu pomocí detektorů sekundárních elektronů.]
Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 61-64. ISBN 978-80-254-0905-3.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: secondary electrons * collection efficiency * detectors * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165653 - 2.0315099 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Maxa, J. - Neděla, Vilém
Differentially Pumped Chamber of VP-SEM Computed by the Use of Cosmos FloWorks Software.
[Diferenciálně čerpaná komora EREM počítaná pomocí softwaru Cosmos.]
Engineering Mechanics 2008. Prague: Institute of Thermomechanics AS CR, v. v. i., 2008 - (Fuis, V.; Pásek, M.), s. 603-611. ISBN 978-80-87012-11-6.
[Engineering Mechanics 2008. Svratka (CZ), 12.05.2008-15.05.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Cosmos FloWorks * VP SEM * gas flow
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165401 - 3.0315098 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Maxa, J. - Neděla, Vilém
Using Cosmos FloWorks to Design the Differentially Pumped Chamber.
[Using Cosmos FloWorks to Design the Differentially Pumped Chamber.]
Engineering Mechanics 2008. Prague: Institute of Thermomechanics AS CR, v. v. i., 2008 - (Fuis, V.; Pásek, M.), s. 156-157. ISBN 978-80-87012-11-6.
[Engineering Mechanics 2008. Svratka (CZ), 12.05.2008-15.05.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Cosmos FloWorks * VP-SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165400 - 4.0315089 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Černoch, P. - Jirák, Josef
Detection of Signal Electrons by Segmental Ionization Detector.
[Detection of Signal Electrons by Segmental Ionization Detector.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 537-538. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: segmental ionization detector * side detection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004860 - 5.0315083 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Runštuk, Jiří
Study of highly-aggressive samples using the variable pressure SEM.
[Studium vysoce agresivních vzorků pomocí EREM.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 589-590. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VP-SEM * battery mass * aggressive samples
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004854 - 6.0315082 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Jánský, Pavel - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
Experimental and simulated signal amplification in variable pressure SEM.
[Experimentální a simulované zesílení signálu v mikroskopu VP-SEM.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 587-588. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VP-SEM * gas ionisation cascade * EOD * Monte-Carlo
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004853 - 7.0092210 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Roubalíková, L.
Study of Tooth Cement Using Variable Pressure SEM.
[Studium zubního cementu pomocí EREM.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 293-294. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886; GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: tooth cement * enamel * VP-SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152596 - 8.0049492 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Linhart, Jan - Autrata, Rudolf
Detection of the True Secondary Electrons with a Newly Designed lonization Detector for ESEM.
[Detekce pravých SE v nově navrženém ionizačním detektoru pro EREM.]
Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16. Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 982.
[IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886; GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SE * BSE * detection system
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139869 - 9.0049018 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Maxa, J. - Autrata, Rudolf
Environmental Scanning Electron Microscope AQUASEM II - The Design and Applications.
[Environmentální rastrovací elektronový mikroskop AQUASEM-II - návrh a aplikace.]
Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 55-56. ISBN 80-239-6285-X.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886; GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ESEM * AQUASEM-II * design
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139515