Výsledky vyhledávání
- 1.0323154 - ÚJF 2009 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kormunda, M. - Malinský, Petr - Macková, Anna - Švecová, B. - Nekvindová, P.
RBS and XPS measurements of Ag and Er implantation into the silica.
[Měření Ag a Er implantovaných v silikátových sklech metodami XPS a RBS.]
Book of Contributed Papers. Bratislava: Department of Experimental Physics, Comenius University in Bratislava, 2009, s. 179-180. ISBN 978-80-89186-45-7.
[17th Symphosium on Application of Plasma Processes. Liptovský Ján (SK), 17.01.2009-22.01.2009]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB100480601
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
Klíčová slova: Ag, Er implantation * silica glass * RBS and XPS analysis
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0171205 - 2.0087308 - ÚJF 2008 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Macková, Anna - Malinský, Petr - Bočan, Jiří - Švorčík, V. - Pavlík, J. - Strýhal, Z.
Study of Ag/PE interface after plasma treatment.
[Studium rozhraní Ag/PE po ozáření v plasmatu.]
Sborní abstraktů konference PBIID 2007. Lipsko: Leibniz Institut fuer Oberflachenmodizierung, 2007, s. 81-81.
[9th International workshop on plasma based ion implantation and deposition. Leipzig (DE), 02.09.2007-06.09.2007]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB100480601; GA MŠMT(CZ) LC06041
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
Klíčová slova: Ag difussion, plasma treatment, mettalized polymers
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004182 - 3.0087305 - ÚJF 2008 RIV BE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Macková, Anna - Havránek, Vladimír - Salavcová, L. - Špirková, J.
Study of Erbium Diffusion into a Glass Surface For Applications in Photonics using Ion Beam Methods.
[Studium difůze erbia do povrchů skel pro aplikace ve fotonice analýzou iontovými svazky.]
Sborní abstraktů konference ECASIA 2007. Brusel: University of Brussel, 2007, s. 277-277.
[12th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis. Brussel (BE), 09.09.2007-14.09.2007]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB100480601
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
Klíčová slova: ion beam analysis, erbium diffusion, photonics
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0149194