Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0050973 - ÚPT 2007 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Neděla, Vilém - Autrata, Rudolf
    Additional Hydration Methods for Observation of Wet Samples in ESEM.
    [Doplňkové hydratační metody pro pozorování vlhkých vzorku v ESEM.]
    Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 38.
    [Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886; GA AV ČR KJB200650602
    Klíčová slova: ESEM * wet samples * agar
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140977
     
     
  2. 2.
    0050970 - ÚPT 2007 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Wandrol, Petr - Autrata, Rudolf
    New BSE Detector for Low Voltage SEM.
    [Nový detektor zpětně odražených elektronů pro nízkonapěťový SEM.]
    Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 45.
    [Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
    Grant CEP: GA AV ČR KJB200650501
    Klíčová slova: backscattered electrons * detector * low voltage SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140976
     
     
  3. 3.
    0050969 - ÚPT 2007 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Linhart, Jan - Neděla, Vilém - Autrata, Rudolf
    Napěťový kontrast v ESEM.
    [Voltage contrast in ESEM.]
    Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 36.
    [Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: voltage contrast * environmental scanning electron microscopy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140975
     
     
  4. 4.
    0050964 - ÚPT 2007 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Novák, Libor - Müllerová, Ilona
    Vliv Everhart-Thornleyho detektoru na zobrazovaný signál.
    [Imaging properties of Everhart-Thornley detector.]
    Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 24.
    [Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/04/2144
    Klíčová slova: SEM * detection * Everhart-Thornley
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140971
     
     
  5. 5.
    0050961 - ÚPT 2007 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Kontrast dopovaných oblastí v polovodiči zobrazený sekundárními elektrony v SEM.
    [Dopant contrast imaged with SE in SEM.]
    Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 37.
    [Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: dopant contrast * SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140970
     
     
  6. 6.
    0050957 - ÚPT 2007 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Horák, Petr - Schauer, Petr
    Effect of Electron Beam on Poly[Methyl(Phenyl)Silylene].
    [Účinek elektronového svazku na poly[fenyl(methyl)silylen].]
    Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 33.
    [Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Klíčová slova: Poly[Methyl(Phenyl)Silylene] * cathodoluminescence * degradation * metastability
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140967
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.