Výsledky vyhledávání
- 1.0030801 - FZÚ 2006 RIV IT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mezzasalma, A. M. - Torrisi, L. - Gammino, S. - Mondio, G. - Franco, G. - Wolowski, J. - Parys, P. - Badziak, J. - Krása, Josef - Láska, Leoš
Scanning Auger Microscopy of laser-produced Cu ions implanted in silicon.
[Augerova skanovací mikroskopie laserem produkovaných iontů implantovaných do křemíku.]
Proceedings of ECLIM /28./. Frascati: C. R. ENEA Frascati, 2005 - (Strangio, C.), x
[ECLIM 2004: European Conference on Laser Interaction with Matter /28./. Roma (IT), 06.09.2004-10.09.2004]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LN00A100
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: ion implantation * pulsed laser irradiation * Scanning Auger Microscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0131625