Výsledky vyhledávání
- 1.0189420 - UMCH-V 20033376 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šloufová, Ivana - Šlouf, Miroslav - Vlčková, B. - Kadlec, Petr - Lednický, František
Morphology changes in Ag colloid/HCI systems.
Proceedings. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 2003, s. 505-506.
[Multinational Congress on Microscopy /6./. Pula (HR), 01.06.2003-05.06.2003]
Grant CEP: GA ČR GA203/01/1013; GA ČR GP203/02/P028
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z4050913
Klíčová slova: metal colloids * transmission electron microscopy * QELS
Kód oboru RIV: CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0085229 - 2.0189419 - UMCH-V 20033375 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šlouf, Miroslav - Kolařík, Jan - Vlková, Helena
Electron microscopy study of PP/SAN polymer blends.
Proceedings. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 2003, s. 503-504.
[Multinational Congress on Microscopy /6./. Pula (HR), 01.06.2003-05.06.2003]
Grant CEP: GA ČR GP106/02/P029; GA AV ČR IAA4050105
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z4050913
Klíčová slova: polymer blends * co-continuous morphology * electron microscopy
Kód oboru RIV: CD - Makromolekulární chemie
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0085228 - 3.0178037 - UFM-A 20033055 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Buršík, Jiří - Frgala, Z. - Kudrle, V.
Sem study of morphology of hard carbon films prepared by microwave plasma chemical vapor deposition.
Multinational Congress on Microscopy /6./. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 2003, s. 515.
[Multinational Congress on Microscopy /6./. Pula (HR), 01.06.2003-05.06.2003]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2041105; GA ČR GP202/01/P106
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2041904
Klíčová slova: SEM * CVD * diamond
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0074933 - 4.0178036 - UFM-A 20033054 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Buršík, Jiří - Buršíková, V.
Plasma-spray coatings on Ni-base substrate studied by SEM and depth-sensing indentation test.
Multinational Congress on Microscopy /6./. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 2003, s. 515.
[Multinational Congress on Microscopy /6./. Pula (HR), 01.06.2003-05.06.2003]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2041105
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2041904
Klíčová slova: coatings * SEM * indentation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0074932