Výsledky vyhledávání
- 1.0205644 - UPT-D 20030026 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Autrata, Rudolf - Roubalíková, L. - Wandrol, Petr - Jirák, Josef
Study of Surface Tooth Treatment using Low-Vacuum Scanning Electron Microscopy.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 9, Sup. 3 (2003), s. 428 - 429. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[MC 2003. Dresden, 07.09.2003-12.09.2003]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: surface tooth treatment * scanning electron microscope * backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.648, rok: 2003
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101257 - 2.0092197 - ÚPT 2008 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Wandrol, Petr - Matějková, Jiřina - Rek, Antonín
High Resolution Imaging by Means of Backscattered Electrons in the Scanning Electron Microscope.
[Zobrazování s vysokým rozlišením pomocí zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.]
Materials Science Forum. 567-568, - (2007), s. 313-316. ISSN 0255-5476
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/0607; GA AV ČR KJB200650501
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * backscattered eletrons * detection * imaging
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.399, rok: 2005
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152586 - 3.0089384 - ÚPT 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Wandrol, Petr - Horák, Petr
Problems of the YAP:Ce Scintillator Use in Detectors of Signal Electrons SEM.
[Problémy použití YAP:Ce scintilátoru v detektorech signálních elektronů v SEM.]
Microscopy and Microanalysis. Roč. 13, Suppl. 3 (2007), s. 84-85. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650501
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: yttrium aluminum perovskite doped by cerium * single crystal scintillator * cathodoluminesce * electron detectors * scanning electron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.941, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0150615 - 4.0089380 - ÚPT 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, Petr - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Strategies for Collection of Secondary Electrons in the SEM.
[Strategie sběru sekundárních elektronů v REM.]
Microscopy and Microanalysis. Roč. 13, Suppl. 3 (2007), s. 78-79. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650501
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: collection efficiency * secondary electrons * ET detector * magnetic field
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.941, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0150611 - 5.0088963 - ÚPT 2008 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Wandrol, Petr
New scintillation detector of backscattered electrons lor the low voltage SEM.
[Nový scintilační detektor zpětně odražených elektronů pro nízkonapěťovou SEM.]
Journal of Microscopy. Roč. 227, - (2007), s. 24-29. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650501
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: backscattered electrons * scintillation detector * low voltage SEM * compositional contrast * detection * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.565, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0150328 - 6.0022806 - ÚPT 2006 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Roubalíková, L. - Autrata, Rudolf - Wandrol, Petr
Připojení kompozitu k tvrdým zubním tkaním a morfologieké srovnání efektů dvou adhezivnich technik.
[Attachment of Composites to Hard Dental Tissues and Morphological Comparison of Effects of Two Adhesive Techniques.]
Česká stomatologie a Praktické zubní lékařství. Roč. 53, č. 5 (2005), s. 92-99. ISSN 1213-0613
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
Klíčová slova: adhesion * primer * self etching adhesive
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111516