Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0205650 - UPT-D 20030032 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Wandrol, Petr - Špinka, Jiří
    Detection of backscattered electrons in environmental scanning electron microscope.
    Proceedings of the 6th Multinational Congress on Microscopy - European Extension. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 2003 - (Milat, O.; Ježek, D.), s. 489 - 490
    [MCEM. Pula (HR), 01.06.2003-05.06.2003]
    Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: collection angle * signal level * detector
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101263
     
     
  2. 2.
    0205510 - UPT-D 20020060 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jirák, Josef - Autrata, Rudolf - Špinka, Jiří
    Detection of signal electrons at higher pressure in the specimen chamber.
    Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 55 - 56. ISBN 80-238-8986-9.
    [Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
    Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * higher pressures * surface negative charge
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101123
     
     
  3. 3.
    0205509 - UPT-D 20020059 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
    X-ray microanalysis in ESEM and LV SEM.
    Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 51 - 54. ISBN 80-238-8986-9.
    [Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
    Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: primary electron * low vacuum * electron microscope
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101122
     
     
  4. 4.
    0205508 - UPT-D 20020058 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Romanovský, Vladimír - Špinka, Jiří
    Combined detector for BSE, SE and BSE+SE detection in a low voltage SEM.
    Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 49 - 50. ISBN 80-238-8986-9.
    [Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
    Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: low accelerating voltage * electrons beam * Everhart-Thornley
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101121
     
     
  5. 5.
    0205251 - UPT-D 20000027 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
    Effect of the electron beam accelerating voltage and of specimen coating on the image in the microscope operating at higher pressures.
    Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 2000 - (Frank, L.; Čiampor, F.), s. I245-I246. ISBN 80-238-5503-4.
    [EUREM /12./ - European Congress on Electron Microscopy. Brno (CZ), 09.07.2000-14.07.2000]
    Grant CEP: GA ČR GA102/00/0969
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100869
     
     
  6. 6.
    0205191 - UPT-D 990096 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Michálek, Martin - Špinka, Jiří
    Study of conditions for observation of electrode masses in a higher-pressure scanning electron microscope.
    22nd Meeting on Electrochemical Power Sources. Brno: Czech Electrotechnical Society, 1998, s. 26-28. ISBN 80-214-1359-X.
    [Electrochemical Power Sources /22./. Brno (CZ), 29.08.1999-02.09.1999]
    Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100811
     
     
  7. 7.
    0205190 - UPT-D 990095 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
    Scanning electron microscopy at higher pressure.
    1st Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 1999, s. 75-77.
    [Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy /1./. Zagreb (HR), 13.05.1999-16.05.1999]
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100810
     
     
  8. 8.
    0205189 - UPT-D 990094 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
    Signal detection in SEM at higher pressure.
    1st Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 1999, s. 63-64.
    [Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy /1./. Zagreb (HR), 13.05.1999-16.05.1999]
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100809
     
     
  9. 9.
    0205149 - UPT-D 990052 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
    Detection of SEs and BSEs at Higher Pressure.
    Proceedings of the 4th Multinational Congress on Electron Microscopy. Veszprém: University of Veszprém, 1999, s. 285-286.
    [MCEM '99 /4./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Veszprém (HU), 05.09.1999-08.09.1999]
    Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100769
     
     
  10. 10.
    0205147 - UPT-D 990050 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří - Romanovský, Vladimír
    Environmental scanning electron microscopy for the study of wet specimens.
    Proceedings of the 4th Multinational Congress on Electron Microscopy. Veszprém: University of Veszprém, 1999, s. 105-111.
    [MCEM '99 /4./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Veszprém (HU), 05.09.1999-08.09.1999]
    Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100767
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.