Výsledky vyhledávání
- 1.0205650 - UPT-D 20030032 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Wandrol, Petr - Špinka, Jiří
Detection of backscattered electrons in environmental scanning electron microscope.
Proceedings of the 6th Multinational Congress on Microscopy - European Extension. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 2003 - (Milat, O.; Ježek, D.), s. 489 - 490
[MCEM. Pula (HR), 01.06.2003-05.06.2003]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: collection angle * signal level * detector
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101263 - 2.0205510 - UPT-D 20020060 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jirák, Josef - Autrata, Rudolf - Špinka, Jiří
Detection of signal electrons at higher pressure in the specimen chamber.
Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 55 - 56. ISBN 80-238-8986-9.
[Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscopy * higher pressures * surface negative charge
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101123 - 3.0205509 - UPT-D 20020059 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
X-ray microanalysis in ESEM and LV SEM.
Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 51 - 54. ISBN 80-238-8986-9.
[Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: primary electron * low vacuum * electron microscope
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101122 - 4.0205508 - UPT-D 20020058 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Romanovský, Vladimír - Špinka, Jiří
Combined detector for BSE, SE and BSE+SE detection in a low voltage SEM.
Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 49 - 50. ISBN 80-238-8986-9.
[Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: low accelerating voltage * electrons beam * Everhart-Thornley
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101121 - 5.0205251 - UPT-D 20000027 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
Effect of the electron beam accelerating voltage and of specimen coating on the image in the microscope operating at higher pressures.
Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 2000 - (Frank, L.; Čiampor, F.), s. I245-I246. ISBN 80-238-5503-4.
[EUREM /12./ - European Congress on Electron Microscopy. Brno (CZ), 09.07.2000-14.07.2000]
Grant CEP: GA ČR GA102/00/0969
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100869 - 6.0205191 - UPT-D 990096 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Michálek, Martin - Špinka, Jiří
Study of conditions for observation of electrode masses in a higher-pressure scanning electron microscope.
22nd Meeting on Electrochemical Power Sources. Brno: Czech Electrotechnical Society, 1998, s. 26-28. ISBN 80-214-1359-X.
[Electrochemical Power Sources /22./. Brno (CZ), 29.08.1999-02.09.1999]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100811 - 7.0205190 - UPT-D 990095 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
Scanning electron microscopy at higher pressure.
1st Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 1999, s. 75-77.
[Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy /1./. Zagreb (HR), 13.05.1999-16.05.1999]
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100810 - 8.0205189 - UPT-D 990094 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
Signal detection in SEM at higher pressure.
1st Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 1999, s. 63-64.
[Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy /1./. Zagreb (HR), 13.05.1999-16.05.1999]
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100809 - 9.0205149 - UPT-D 990052 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
Detection of SEs and BSEs at Higher Pressure.
Proceedings of the 4th Multinational Congress on Electron Microscopy. Veszprém: University of Veszprém, 1999, s. 285-286.
[MCEM '99 /4./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Veszprém (HU), 05.09.1999-08.09.1999]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100769 - 10.0205147 - UPT-D 990050 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří - Romanovský, Vladimír
Environmental scanning electron microscopy for the study of wet specimens.
Proceedings of the 4th Multinational Congress on Electron Microscopy. Veszprém: University of Veszprém, 1999, s. 105-111.
[MCEM '99 /4./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Veszprém (HU), 05.09.1999-08.09.1999]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100767