Výsledky vyhledávání
- 1.0494380 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zouhar, Martin - Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Konvalina, Ivo
Inelastic mean free path from raw data measured by low-energy electrons time-of-flight spectrometer.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 86-87. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * time of flight * inelastic mean free path * low energy
Obor OECD: Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287642 - 2.0494372 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš - Kolařík, V. - Oral, Martin
Electron optical properties of a new low-energy scanning electron microscope with beam separator.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 64-65. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * beam separation * aberrations
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287628 - 3.0494368 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin - Číp, Ondřej - Slodička, L.
Analysis of linear ion Paul traps using 3-D FEM and the azimuthal multipole expansion.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 52-55. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA ČR GB14-36681G
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: linear ion traps * atomic clock * electric RF fields * simulation of electrostatic fields * finite element method * multipole field expansion * ion trajectories * particle tracing
Obor OECD: Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287623 - 4.0460210 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš - Oral, Martin
Correction of misalignment aberrations of a hexapole corrector using the differential algebra method.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 50-53. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) 7H13015
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * Schertzer theorem * TEM * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260342 - 5.0460207 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Rozbořil, Jakub - Oral, Martin - Radlička, Tomáš
Optimal X-ray detection for thin samples in low-energy STEM.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 44-45. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * EDS * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260339 - 6.0431219 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin - Radlička, Tomáš
Computations in Charged Particle Optics.
Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i, 2014, s. 23-24. ISBN 978-80-87441-12-1.
[Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM. Mikulov (CZ), 26.08.2014-31.08.2014]
Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: charged Particle Optics * computations
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0235965 - 7.0386396 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin
Fast simulation of ToF spectrometers.
Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 51-54. ISBN 978-80-87441-07-7.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: ToF SIMS * fast simulation method
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215695 - 8.0350668 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin
Ray tracing, aberration coefficients and intensity distribution.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 49-52. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ray tracing * aberration coefficients * intensity distribution
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350668_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190608 - 9.0205597 - UPT-D 20020147 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin
Určení přesných trajektorií nabitých částic a vad soustav v částicové optice.
[The assessment of accurate trajectories of charged particles and errors of systems in particle optics.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 29 - 32. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: trajectories of electrons * particle-optical systems
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101210 - 10.0205502 - UPT-D 20020052 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin
Calculation of the beam profile.
Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 19 - 20. ISBN 80-238-8986-9.
[Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: particle beam * beam aberrations * aberration theory
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101115