Výsledky vyhledávání
- 1.0587600 - ÚPT 2025 RIV cze P - Patentový dokument
Neděla, Vilém
Zařízení pro obrazovou a chemickou spektroskopickou analýzu.
[An equipment for an image and chemical spectroscopic analysis.]
2024. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení patentu: 22.05.2024. Číslo patentu: 310063. Teritoriální ochrana: národní patent v členském státě EU .
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * ESEM * A-ESEM * mass spectrometer
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://isdv.upv.gov.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/310/310063.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0354731 - 2.0372211 - ÚPT 2012 RIV eng P - Patentový dokument
Neděla, Vilém - Jirák, Josef
Ionisation Detector for Environmental Scanning Microscope.
2011. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení patentu: 23.11.2011. Číslo patentu: EP2195822
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ionisation detector * secondary electrons * electrostatic separator
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
https://data.epo.org/publication-server/pdf-document?pn=2195822&ki=B1&cc=EP
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205582 - 3.0322626 - ÚPT 2011 RIV CZ cze P - Patentový dokument
Neděla, Vilém - Jirák, Josef
Ionizační detektor environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu.
[The ionisation detector of the environmental scanning electron microscope.]
Praha: Úřad průmyslového vlastnictví, 2008. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum podání přihlášky: 04.10.2007. Datum udělení patentu: 05.11.2008. Číslo patentu: 299864
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ISEDS * secondary electrons * VP SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/299/299864.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0170824