Výsledky vyhledávání
- 1.0205614 - UPT-D 20020166 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Matějka, František - Ryzí, Z.
Elektronová litografie - nástroj i pro nanotechnologie?
[Electron beam lithography - a tool for nanotechnologies?]
Proceedings of the national conference NANO'02. Brno: Česká společnost pro nové materiály, 2002, s. 67 - 72.
[NANO'02. Brno (CZ), 19.11.2002-21.11.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: elektronová litografie * nanotechnologie
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101227 - 2.0205117 - UPT-D 990020 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Matějka, František - Kolařík, V.
Metrické normály pro elektronovou a optickou mikroskopii připravované pomocí elektronové litografie.
[Metrical standards for electron and optical microscopies prepared using electron litography.]
Sborník vyzvaných přednášek a posterových příspěvků Transfer '99. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 1999, s. C21-C22. ISBN 80-214-1341-7.
[Transfer '99. Brno (CZ), 07.06.1999-08.06.1999]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/1145
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100737 - 3.0205025 - UPT-D 980063 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Matějka, František - Kolařík, V.
Mikrolitografie struktur pro senzoriku a prvky MEMS a OVS.
[Microlithography of Structures for Sensors, MEMS and OFS.]
Celostátní konference technických univerzit a průmyslu Transfer 98. Vol. 1. Praha: Ediční středisko ČVUT, 1998 - (Strejc, A.), s. 171-172
[Transfer 98. Praha (CZ), 08.06.1998-10.06.1998]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/S078
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100645 - 4.0053160 - ÚPT 2007 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Ficek, R. - Vrba, R. - Zajíčková, L. - Eliáš, M. - Matějka, František - Kolařík, Vladimír - Matějková, Jiřina
Uhlíkové nanotrubice - měření elektrických vlastností.
[Carbon nanotubes – measurement of the electrical properties.]
Sborník semináře o výsledcích výzkumného záměru y MSM 0021630503 v roce 2005 - MIKROSYN - Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2005, s. 142-147.
[Mikrosyn - Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. Brno (CZ), 12.12.2006]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/0607
Klíčová slova: carbon nanotubes * measurement of electrical properties
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0141505