Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0205643 - UPT-D 20030025 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Frank, Luděk - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
    Low Energy Contrast of Metal Matrix Composite in SEM.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 9, Sup. 3 (2003), s. 328 - 329. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
    [MC 2003. Dresden, 07.09.2003-12.09.2003]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: low energy contrasts * scanning electron microscope * aluminium alloys
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.648, rok: 2003
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101256
     
     
  2. 2.
    0109096 - UPT-D 20040101 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
    Very Low Energy Scanning Electron Microscope.
    [Rastrovací elektronový mikroskop s pomalými elektrony.]
    G.I.T. Imaging and Microscopy. Roč. 6, č. 4 (2004), s. 47-49. ISSN 1439-4243
    Grant CEP: GA AV ČR KJB2065405
    Klíčová slova: Scanning Electron Microscope * SLEEM * SLETEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016208
     
     
  3. 3.
    0088945 - ÚPT 2008 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Frank, Luděk
    Enhancement of SEM to scanning LEEM.
    [Rozšíření SEM na rastrovací LEEM.]
    Surface Science. Roč. 601, č. 20 (2007), s. 4768-4773. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: SEM * LEEM * scanning LEEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.855, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0150316
     
     
  4. 4.
    0022440 - ÚPT 2006 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
    Rastrovací elektronový mikroskop pro studium povrchů.
    [Scanning electron microscope for surface study.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 50, č. 3 (2005), s. 79-81. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB2065405
    Klíčová slova: Ultrahigh vacuum * Scanning Low Energy Electron Microscopy * Auger spectroscopy
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111180
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.