Výsledky vyhledávání
- 1.0205643 - UPT-D 20030025 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
Low Energy Contrast of Metal Matrix Composite in SEM.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 9, Sup. 3 (2003), s. 328 - 329. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[MC 2003. Dresden, 07.09.2003-12.09.2003]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: low energy contrasts * scanning electron microscope * aluminium alloys
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.648, rok: 2003
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101256 - 2.0109096 - UPT-D 20040101 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
Very Low Energy Scanning Electron Microscope.
[Rastrovací elektronový mikroskop s pomalými elektrony.]
G.I.T. Imaging and Microscopy. Roč. 6, č. 4 (2004), s. 47-49. ISSN 1439-4243
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065405
Klíčová slova: Scanning Electron Microscope * SLEEM * SLETEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016208 - 3.0088945 - ÚPT 2008 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Frank, Luděk
Enhancement of SEM to scanning LEEM.
[Rozšíření SEM na rastrovací LEEM.]
Surface Science. Roč. 601, č. 20 (2007), s. 4768-4773. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * LEEM * scanning LEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.855, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0150316 - 4.0022440 - ÚPT 2006 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
Rastrovací elektronový mikroskop pro studium povrchů.
[Scanning electron microscope for surface study.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 50, č. 3 (2005), s. 79-81. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB2065405
Klíčová slova: Ultrahigh vacuum * Scanning Low Energy Electron Microscopy * Auger spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111180