Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0460212 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Rodenburg, C. - Masters, R. - Lidzey, D. - Unčovský, M. - Vystavěl, Tomáš - Mika, Filip
    Secondary electron spectroscopy and energy selective imaging for the engineering of carbon based materials.
    Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 58-59. ISBN 978-80-87441-17-6.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:68378271
    Klíčová slova: emission spectroscopy * SES
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.trends.isibrno.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260344
     
     
  2. 2.
    0355903 - FZÚ 2011 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Dám, Karel - Jäger, Aleš - Vystavěl, Tomáš - Lejček, Pavel
    Structure and properties of ultrafine-grained aluminium alloys prepared by equal-channel angular pressing.
    ISDM 2010 Proceedings. Aachen: RWTH Aachen University, 2010 - (Epple, D.; Nick, M.; Strämke, M.; Zilkens, C.), s. 141-144. ISBN N.
    [ISDM 2010. Aachen (DE), 16.09.2010-18.09.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100801
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
    Klíčová slova: Equal-Channel Angular Pressing * aluminium alloys * grain refinement
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194568
     
     
  3. 3.
    0132600 - FZU-D 990186 RIV FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Vystavěl, Tomáš - Gemperle, Antonín - Gemperlová, Juliana
    Dislocation structure of a near .SIGMA.5 grain boundary in a Cu bicrystal.
    Electron Microscopy 1994. Proceedings of the 13th International Congress on Electron Microscopy. Vol. 2A. Les Ulis Cedex: Les Editions de Physique., 1994 - (Jouffrey, B.; Colliex, C.), s. 195-196. ISBN 2-86883-226-1.
    [International Congress on Electron Microscopy (ICEM 13). Paříž (FR), 17.07.1994-22.07.1994]
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030614
     
     
  4. 4.
    0132260 - FZU-D 990172 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Vystavěl, Tomáš - Penisson, J. M. - Gemperle, Antonín - Gemperlová, Juliana
    Potentialities if simultaneous HREM and Conventional TEM of Grain Boundary structure.
    Electron Microscpy. Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy. Vol. 2. London: Institute of Physics Publishing, 1998 - (Benavides, H.; Yacamán, M.), s. 659-660. ISBN 0-7503-0565-7.
    [International Congress on Electron Microscpy (ICEM)/14./. Caucum (MX), 31.08.1998-04.09.1998]
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030293
     
     
  5. 5.
    0132259 - FZU-D 990171 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Gemperle, Antonín - Gemperlová, Juliana - Vystavěl, Tomáš
    One grain dark field imaging of grain boundary dislocation structures.
    Electron Microscpy. Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy. Vol. 2. London: Institute of Physics Publishing, 1998 - (Benavides, H.; Yacamán, M.), s. 619-620. ISBN 0-7503-0565-7.
    [International Congress on Electron Microscpy (ICEM)/14./. Caucum (MX), 31.08.1998-04.09.1998]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010702; GA ČR GA202/98/1281
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030292
     
     
  6. 6.
    0132258 - FZU-D 990170 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Gemperle, Antonín - Vystavěl, Tomáš - Gemperlová, Juliana
    Two basic types of near coincidence grain boundary dislocation structure.
    Electron Microscpy. Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy. Vol. 2. London: Institute of Physics Publishing, 1998 - (Benavides, H.; Yacamán, M.), s. 621-622. ISBN 0-7503-0565-7.
    [International Congress on Electron Microscpy (ICEM)/14./. Caucum (MX), 31.08.1998-04.09.1998]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010702; GA ČR GA202/98/1281
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030291
     
     
  7. 7.
    0132257 - FZU-D 990169 RIV BE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Gemperle, Antonín - Gemperlová, Juliana - Vystavěl, Tomáš
    The possibility of complete analysis of GBD structure of a .SIGMA.5 boundary with 4.5 0 deviation from coincidence in Cu.
    Electron Microscopy`96. proceedings of EUREM - 11, the 11th European Conference on Electron Microscpy. Brussels: Commitee of European Societies of Microscopy, 1998, s. 658-659. ISBN 2-9600163-0-0.
    [EUREM - 11. Dublin (IE), 26.08.1996-30.08.1996]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010510; GA ČR GA202/94/1177
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030290
     
     
  8. 8.
    0132256 - FZU-D 990168 RIV BE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Vystavěl, Tomáš - Gemperle, Antonín - Gemperlová, Juliana
    Analysis of high grain boundary dislocation networks without image computation.
    Electron Microscopy`96. proceedings of EUREM - 11, the 11th European Conference on Electron Microscpy. Vol. 2. Brussels: Commitee of European Societies of Microscopy, 1998, s. 581-582. ISBN 2-9600163-0-0.
    [EUREM - 11. Dublin (IE), 26.08.1996-30.08.1996]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010510; GA ČR GA202/94/1177
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030289
     
     
  9. 9.
    0130525 - FZU-D 950375 RIV FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Vystavěl, Tomáš - Gemperle, Antonín - Gemperlová, Juliana
    Dislocation structure of a near grain boundary in a Cu Bi crystal.
    Electron Microscopy. Les Ulis: Editions de Physique, 1994 - (Jouffrey, B.; Colliex, C.), s. 195-196. 2-86883-226-1, 2A.
    [International Congress on Electron Microscopy. Paris (FR), 17.07.1994-22.07.1994]
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0028647
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.