Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0204907 - UPT-D 970042 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - El Gomati, M. M.
    Localised information in scanning electron beam excited imaging of surfaces.
    Proccedings of the International Seminar New Trends in Surface Analysis NTSA '97. Bratislava: Slovak University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, 1997 - (Breza, J.; Liday, J.; Frank, L.; Král, J.), s. 1-4. ISBN 80-227-1010-5.
    [NTSA '97 - New Trends in Surface Analysis. Bratislava (SK), 26.11.1997-27.11.1997]
    Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280; GA ČR GA202/96/0961
    Grant ostatní: CEC(XE) CP93:12283
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100527
     
     
  2. 2.
    0204904 - UPT-D 970039 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Zadražil, Martin - Frank, Luděk
    Low-energy SEM imaging of bevelled multilayers.
    Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 297-298.
    [MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
    Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
    Grant ostatní: CEC(XE) CP93:12283
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100524
     
     
  3. 3.
    0204903 - UPT-D 970038 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Zadražil, Martin - El Gomati, M. M. - Walker, A.
    Measurements of very low energy secondary and backscattered electron coefficients.
    Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 301-302.
    [MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
    Grant ostatní: CEC(XE) CP93:12283
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100523
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.