Výsledky vyhledávání
- 1.0205098 - UPT-D 980076 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona
Microscopy with slow electrons.
Journal of Computer Assisted Microscopy. Roč. 9, č. 2 (1997), s. 97-100. ISSN 1040-7286.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož, 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100718 - 2.0205097 - UPT-D 980075 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Schauer, Petr - Autrata, Rudolf
Scintillator-photocathode matching in scintillation detector for S(T)EM.
Journal of Computer Assisted Microscopy. Roč. 9, č. 2 (1997), s. 119-120. ISSN 1040-7286.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož, 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100717 - 3.0205096 - UPT-D 980074 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Hutař, Otakar - Autrata, Rudolf
Optimization of the BSE Detector for LVSEM.
Journal of Computer Assisted Microscopy. Roč. 9, č. 2 (1997), s. 117-118. ISSN 1040-7286.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož, 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA AV ČR IAA2065703
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100716 - 4.0205095 - UPT-D 980073 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Autrata, Rudolf - Jirák, J. - Romanovský, Vladimír - Špinka, J.
Signal detection in environmental SEM with ionisation detector.
Journal of Computer Assisted Microscopy. Roč. 9, č. 2 (1997), s. 115-116. ISSN 1040-7286.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož, 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100715 - 5.0205094 - UPT-D 980072 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Autrata, Rudolf - Jirák, J. - Klvač, M. - Špinka, J.
Detection of backscattered electrons in environmental scanning electron microscope.
Journal of Computer Assisted Microscopy. Roč. 9, č. 2 (1997), s. 113-114. ISSN 1040-7286.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož, 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100714 - 6.0205093 - UPT-D 980071 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Autrata, Rudolf - Hutař, Otakar - Schauer, Petr
Low voltage single crystal backscatter electron detectors.
Journal of Computer Assisted Microscopy. Roč. 9, č. 2 (1997), s. 105-107. ISSN 1040-7286.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož, 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100713 - 7.0205092 - UPT-D 980070 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Wave-optical contrast in SEM.
Journal of Computer Assisted Microscopy. Roč. 9, č. 2 (1997), s. 109-110. ISSN 1040-7286.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož, 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
Grant ostatní: CEC(XE) CP93/12283
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100712 - 8.0205091 - UPT-D 980069 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Zadražil, Martin - Frank, Luděk
Low-energy SEM imaging of bevelled multilayers.
Journal of Computer Assisted Microscopy. Roč. 9, č. 2 (1997), s. 121-122. ISSN 1040-7286.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož, 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
Grant ostatní: CEC(XE) CP93/12283
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100711 - 9.0205090 - UPT-D 980068 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Zadražil, Martin - El Gomati, M. M. - Walker, A.
Measurements of very low energy secondary and backscattered electron coefficients.
Journal of Computer Assisted Microscopy. Roč. 9, č. 2 (1997), s. 123-124. ISSN 1040-7286.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož, 05.10.1997-08.10.1997]
Grant ostatní: CEC(XE) CP93/12283
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100710