Výsledky vyhledávání
- 1.0204958 - UPT-D 970094 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona
Microscopy with slow electrons.
Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 273-278.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100578 - 2.0204957 - UPT-D 970093 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Schauer, Petr - Autrata, Rudolf
Scintillator-photocathode matching in scintillation detector for S(T)EM.
Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 293-294.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100577 - 3.0204956 - UPT-D 970092 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hutař, Otakar - Autrata, Rudolf
Optimization of the BSE Detector for LVSEM.
Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 291-292.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA AV ČR IAA2065703
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100576 - 4.0204955 - UPT-D 970091 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, J. - Romanovský, Vladimír - Špinka, J.
Signal detection in environmental SEM with ionisation detector.
Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 289-290.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100575 - 5.0204954 - UPT-D 970090 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, J. - Klvač, M. - Špinka, J.
Detection of backscattered electrons in environmental scanning electron microscope.
Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 287-288.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100574 - 6.0204953 - UPT-D 970089 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Hutař, Otakar - Schauer, Petr
Low voltage single crystal backscatter electron detectors.
Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 281-282.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100573 - 7.0204905 - UPT-D 970040 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Wave-optical contrast in SEM.
Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 283-284.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100525 - 8.0204904 - UPT-D 970039 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Zadražil, Martin - Frank, Luděk
Low-energy SEM imaging of bevelled multilayers.
Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 297-298.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
Grant ostatní: CEC(XE) CP93:12283
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100524 - 9.0204903 - UPT-D 970038 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zadražil, Martin - El Gomati, M. M. - Walker, A.
Measurements of very low energy secondary and backscattered electron coefficients.
Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 301-302.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
Grant ostatní: CEC(XE) CP93:12283
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100523