Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0331678 - FZÚ 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Hartmanová, M. - Jergel, M. - Mansilla, C. - Holgado, J.P. - Zemek, Josef - Jurek, Karel - Kundracik, F.
    Structural characteristics and morphology of SmxCe1-xO2-x/2 thin films.
    Applied Surface Science. Roč. 255, č. 22 (2009), s. 9085-9091. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: structure * morphology * thin films * Ce02 * Sm2O3
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.616, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0005527
     
     
  2. 2.
    0131561 - FZU-D 980618 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Hartmanová, M. - Thurzo, I. - Jergel, M. - Bartoš, J. - Kadlec, Filip - Železný, Vladimír - Tunega, D. - Kundracik, F. - Chromik, S. - Brunel, M.
    Characterization of yttria-stabilized zirconia thin films deposited by electron beam evaporation on silicon substrates.
    Journal of Materials Science. Roč. 33, - (1998), s. 969-975. ISSN 0022-2461. E-ISSN 1573-4803
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 0.632, rok: 1998
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029620
     
     
  3. 3.
    0030688 - FZÚ 2006 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
    Hartmanová, M. - Jergel, M. - Navrátil, V. - Navrátil, K. - Gmucová, K. - Gandarilla, F.C. - Zemek, Josef - Chromik, S. - Kundracik, F.
    Effect of structural imperfections on the characteristicas of YSZ dielectric layers grown by E-beam evaporation from the crystalline targets.
    [Vliv strukturních poruch na vlastnosti YSZ dielektrických vrstev, připravených vypařováním krystalu pomocí elektronového svazku.]
    Acta Physica Slovaca. Roč. 55, č. 3 (2005), s. 247-259. ISSN 0323-0465. E-ISSN 1336-040X
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: yttria-stabilized zirconia * thermal barrier coatings * vacuum-deposited films * thin- films * ultra-microhardness * optical properties * vapor-deposition * silicon * conductivity * ceria
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 0.359, rok: 2005
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0120399
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.