Výsledky vyhledávání
- 1.0205603 - UPT-D 20020153 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zobač, Martin
Mikroobrábění elektronovým svazkem.
[Micro-machining by an electron beam.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 49 - 50. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065015
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: micromachining * electron beam * high-voltage source
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101216 - 2.0205602 - UPT-D 20020152 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Wandrol, Petr
Studium kontrastních mechanismů v environmentální rastrovací elektronové mikroskopii.
[Study of contrast mechanisms in environmental scanning electron microscopy.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 47 - 48. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065107; GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: environmental SEM * secondary electron * contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101215 - 3.0205601 - UPT-D 20020151 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vlček, Ivan
Teoretické a experimentální studium vlastností Wienova filtru pro použití v rastrovacím mikroskopu s velmi nízkou energií.
[Theoretical and experimental study of the Wien filter properties for the application in a scanning microscope with very low energy.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 43 - 45. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065804
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: very-low energy * electron microscopy * Wien filter
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101214 - 4.0205600 - UPT-D 20020150 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Schneider, Luděk
Segmentový ionizační detektor pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop.
[Segment ionization detector for environmental scanning electron microscope.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 39 - 41. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: electron microscope * ionization detector * environmental SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101213 - 5.0205599 - UPT-D 20020149 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Seďa, Bohuslav
Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
[Wave-optical contrasts in the scanning electron microscope.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 37. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: electron microscope * ionization detector * environmental SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101212 - 6.0205598 - UPT-D 20020148 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Přichystal, Vladimír
Detekce zpětně odražených elektronů v nízkoenergiové oblasti spektra elektronového svazku v SEM.
[Detection of backscattered electrons in the low energy area of the spectra of the electron beam in SEM.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 33 - 35. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065107; GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: SEM * BSE * low energy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101211 - 7.0205597 - UPT-D 20020147 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin
Určení přesných trajektorií nabitých částic a vad soustav v částicové optice.
[The assessment of accurate trajectories of charged particles and errors of systems in particle optics.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 29 - 32. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: trajectories of electrons * particle-optical systems
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101210 - 8.0205596 - UPT-D 20020146 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém
Problematika detekce sekundárních a zpětně odražených elektronů ve vysokém tlaku ESEM.
[Problems of detection of secondary and backscattered electrons at high pressure in ESEM.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 25 - 28. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065107; GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: detection * environmental * microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101209 - 9.0205595 - UPT-D 20020145 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip
Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů.
[Quantitative study of density of the dopant configuration in a semiconductor by emission of secondary electrons.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 23 - 24. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065901
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: semi-conductor structure * low energy SEM * contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101208 - 10.0205594 - UPT-D 20020144 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo
Kvantifikace detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v REM.
[Quantification of detection effectiveness of the detector of secondary electrons in SEM.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 21 - 22. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: detective quantum efficiency * detector of secondary electrons * signal-to-noise ratio
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101207