Výsledky vyhledávání

0133764 - FZU-D 20020145 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Srnanek, R. - Gurnik, P. - Harmatha, L. - Gregora, Ivan
Diagnostics of Si multi-delta-doped GaAs layers by Raman spectroscopy on bevelled structures.
Applied Surface Science. Roč. 183, - (2002), s. 86-92. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant ostatní: VEGA(SK) 1/7600/20; VEGA(SK) 1/6098/99; VEGA(SK) 1/7613/20
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: delta-doped layers * micro-Raman * GaAs * Si-doping
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.295, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0000631