Výsledky vyhledávání
- 1.0583656 - ÚPT 2024 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Benešová, Markéta - Bernatová, Silvie - Samek, Ota - Pokorná, Zuzana - Mika, Filip - Kizovský, Martin - Pilát, Zdeněk
SERS-TAGS: Selektivní imobilizace a detekce bakterií pomocí specifických protilátek a povrchově zesíleného Ramanova rozptylu.
[SERS-TAGS: Selective immobilization and detection of bacteria using specific antibodies and surface-enhanced Raman scattering.]
LA63. Sborník příspěvků multioborové konference LASER63. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2023 - (Mikel, B.), s. 9-12. ISBN 978-80-87441-32-9.
[LASER63. Třešť (CZ), 18.10.2023-20.10.2023]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Raman spectroscopy * SERS * diagnostcs * SERS-labels
Obor OECD: Analytical chemistry
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0351680 - 2.0494367 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Pokorná, Zuzana - Konvalina, Ivo - Khursheed, A.
Possibilites of a secondary electrons bandpass filter for standard SEM.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 46-47. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electron * filtering * imaging
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0288493 - 3.0467260 - ÚPT 2017 JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Reflected and transmitted mode in the scanning low energy electron microscope.
2nd Forum of Center for ADvanced Materials Research and International Collaboration (CAMRIC-FORUM2). Toyama: University of Toyama, 2016, s. 29-30.
[Forum of Center for ADvanced Materials Research and International Collaboration /2./ (CAMRIC-FORUM2). Toyama (JP), 13.10.2016-14.10.2016]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0265401 - 4.0460213 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šiler, Martin - Brzobohatý, Oto - Chvátal, Lukáš - Karásek, Vítězslav - Paták, Aleš - Pokorná, Zuzana - Mika, Filip - Zemánek, Pavel
Golden nanoparticle in optical tweezers: influence of shape and orientation on optical trapping.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 64-65. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA ČR GB14-36681G
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: NPs * plasmon resonance
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260345 - 5.0460209 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Knápek, Alexandr
Scanning very low energy electron microscopy for the characterization of polycrystalline metal samples.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 48-49. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * SEM * crystallographic orientation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260341 - 6.0460201 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Knápek, Alexandr - Pokorná, Zuzana
Field emission from the surface of highly ordered pyrolytic graphite.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 22-23. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * HOPG * SNOM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260333 - 7.0450822 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk - Knápek, Alexandr - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Walker, Christopher - Müllerová, Ilona
Scanning low-and very low energy electron microscopy.
12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 218-220. ISBN 978-963-05-9653-4.
[MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very low energy * scanning low energy electron microscopy * crystallography, graphene * tissue sections
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252034 - 8.0434115 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Knápek, Alexandr - Jašek, O. - Prášek, J. - Majzlíková, P.
Imaging of carbon nanostructures by low energy STEM below 5 keV.
18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
[International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low energy STEM * carbon nanostructures
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238252 - 9.0423862 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Knápek, Alexandr
Scanning Low Energy Electron Microscopy for the determination of crystallographic orientation of polycrystalline metal grains.
Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 329-330.
[Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SLEEM * Crystallographic orientation * polycrystalline metal * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229924 - 10.0423860 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Knápek, Alexandr - Pokorná, Zuzana
Algorithm for Analysis of a Data Cube of Electron Micrographs.
Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 325-326.
[Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA ČR GAP108/11/2270
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SLEEM * crystallographic orientation * grain boundary recognition
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229921