Výsledky vyhledávání
- 1.0022571 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Zobač, Martin
Rozvoj aparatury pro mikroobrábění elektronovým svazkem.
[Development of the Electron beam micromachining device.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 65-70. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron-beam * machining * run-time control
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111299 - 2.0022570 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Wandrol, Petr
Detekce zpětně odražených elektronů v nízkonapěťové rastrovací elektronové mikroskopii.
[Detection of Backscattered Electrons in Low Voltage Scanning Electron Microscopy.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 61-64. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
Klíčová slova: backscattered electrons * low voltage SEM * trajectories
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111298 - 3.0022569 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Vlček, Ivan
Teoretické a experimentální studium vlastností Wienova filtru pro použití v rastrovacím mikroskopu s velmi nízkou energií.
[Theoretical and experimental study of a Wien filter properties for using at the very-low-energy scanning electron microscope.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 57-60. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/03/1575
Klíčová slova: very low energy SEM * Wien filter * CCD detector
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111297 - 4.0022568 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Pokorná, Zuzana
Zobrazení lokální hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů.
[Local density of states mapping using the reflection of very slow electrons.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 55-56. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/04/0281
Klíčová slova: local density of states * very slow electrons * dopant distribution
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111296 - 5.0022567 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Oral, Martin
Určení přesných trajektorií nabitých částic a vad soustav v částicové optice.
[Determination of exact charged-particle trajectories and aberrations of systems in particle optics.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 51-53. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB2065405
Klíčová slova: aberrations * electron optics * spot profiles
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111295 - 6.0022566 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Novák, Libor
Metody kvantifikace detekční trasy sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 49-50. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111294 - 7.0022565 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Neděla, Vilém
Problematika detekce sekundárních a zpětně odražených elektronů ve vysokém tlaku EREM se zřetelem na studium vzorků obsahujících vodu.
[Problems of detection of secondary and backscattered electrons in the higher pressure of ESEM in view of the study of water containing specimens.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 43-48. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
Klíčová slova: AQUASEM-VEGA * agar
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111293 - 8.0022564 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Mika, Filip
Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů.
[Quantitative 2D dopant profiling in semiconductor by the secondary electron emission.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 37-42. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB2065301
Klíčová slova: dopant * semiconductor * se contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111292 - 9.0022563 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Linhart, Jan
Studium kontrastních mechanismů nevodivých a vlhkých vzorků v environmentální rastrovací elektronové mikroskopii.
[Study of the contrast mechanisms nonconductive and wet samples in ESEM.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 35-36. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
Klíčová slova: environmental scanning electron microscopy * contrast mechanism
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111291 - 10.0022562 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo
Kvantifikace detekční účinností detektoru sekundárních elektronů v REM.
[The quantification of the detection efficiency of the secondary electron detector in SEM.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 31-34. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: collection efficiency * ET detector * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111290