Výsledky vyhledávání
- 1.0327259 - FZÚ 2010 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Mates, Tomáš - Honda, Shinya - Čermák, Jan - Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Stuchlíková, The-Ha - Šípek, Emil - Kočka, Jan
Mapping electronic properties of the thin films for solar cells with nanometer resolution.
[Mapování elektronických vlastností tenkých vrstev pro sluneční články s nanometrovým rozlišením.]
Proceedings of the 4th Workshop on the Future Direction of Photovoltaics. Tokyo: Japan Society for the Promotion of Science, 2008, s. 62-66.
[Workshop on the Future Direction of Photovoltaics /4./. Aogaku Kaikan, Tokyo (JP), 06.03.2008-07.03.2008]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: silicon * thin films * photovoltaics
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0174113