Výsledky vyhledávání
- 1.0205241 - UPT-D 20000017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mynář, M. - Vašina, R. - Kolařík, Robert - Lencová, Bohumila
Electron Ray-Tracing for Numerical Determination of Aberrations.
Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 2000 - (Frank, L.; Čiampor, F.), s. I99-I100. ISBN 80-238-5503-4.
[EUREM /12./ - European Congress on Electron Microscopy. Brno (CZ), 09.07.2000-14.07.2000]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065804
Grant ostatní: IC15(XE) CT97-0700
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100859