Výsledky vyhledávání | Knihovna Akademie věd České republiky

Nalezeno záznamů: 2

Váš dotaz: Autor-kód záznamu + druh.dok = "^cav_un_auth 0020931 zc^"

Do košíku
Bookmark
1.
0302746 - URE-Y 950065 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Walachová, Jarmila - Chow, D. H. - Košut, Jaroslav - Král, J. - Karamazov, S. - Zelinka, Jiří - Vaniš, Jan - Zich, Pavel - McGill, T. C.
Probing of Double Barrier In AS/Al Sb Tunneling Structure with BEEM.
Bad Honnef: Physikzentrum, 1995. In: STM-Related Spectroscopies of Semiconductor Interfaces (Abstracts)., s. -
[WE-Heraeus-Seminar /148./. Bad Honnef (DE), 30.08.1995-01.09.1995]
Grant CEP: GA ČR 202/94/1056
Klíčová slova: semiconductor devices * semiconductor heterojunctions * spectroscopy
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113093
Do košíku
RIV
Bookmark
2.
0105871 - URE-Y 20040036 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vaniš, Jan - Chow, D. H. - Pangrác, Jiří - Šroubek, Filip - McGill, T. C. M. - Walachová, Jarmila
Characterization of InAs/AlSb tunneling double barrier heterostructure by ballistic electron emission microscope with InAs as based electrode.
[Charakterizace dvojité tunelové bariérové InAs/AlSb heterostruktury pomocí balistické elektronové emisní mikroskopie s bázovou InAs elektrodou.]
Proceedings 6th International Workshop on Expert Evaluation & Control of Compound Semiconductor Materials & Technologies - EXMATEC'2002. Weinheim: WileyVCH Verlag, 2003 - (Stutzmann, M.), s. 986-991. Physica Status Solidi, Conferences, 0.3.2003. ISBN 3-527-40436-8.
[EXMATEC 2002 - International Workshop on Expert Evaluation & Control of Compounds Semiconductor Materials & Technologies /6./. Budapest (HU), 26.05.2002-29.05.2002]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KSK1010104
Klíčová slova: field emission electron microscopy * semiconductor quantum wells * spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0013059