Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0132635 - FZU-D 990057 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Cukr, Miroslav - Jiříček, Petr - Zemek, Josef - Bartoš, Igor
    Surface electron structure of GaAs(100).
    80-227-1010-5. In: New Trends in Surface Analysis. Bratislava: Slovak University of Technology. Faculty of Electrical Engineering and Information Technology. Microelectronics department, 1997 - (Breza, J.; Liday, J.; Frank, L.; Král, J.; Zemek, J.), s. 35-38. Proceedings of the International Seminar.
    [NTSA 97 - New Trends in Surface Analysis. Bratislava (SK), 26.11.1997-28.11.1997]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010531
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030646
     
     
  2. 2.
    0132633 - FZU-D 990055 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Bartoš, Igor
    Electron structure of crystals from VLEED.
    80-227-1010-5. In: New Trends in Surface Analysis. Bratislava: Slovak University of Technology. Faculty of Electrical Engineering and Information Technology. Microelectronics department, 1997 - (Breza, J.; Liday, J.; Frank, L.; Král, J.; Zemek, J.), s. 39-41. Proceedings of the International Seminar.
    [NTSA 97 - New Trends in Surface Analysis. Bratislava (SK), 26.11.1997-28.11.1997]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010531
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030644
     
     
  3. 3.
    0131820 - FZU-D 980405 RIV DB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Vvedensky, D. D. - Šmilauer, Pavel - Shitara, T.
    Morphological evaluation during epitaxial growth.
    Nanostructures and Quantum Effects. Berlin: SpringerVerlag, 1994 - (Sakaki, H.; Noge, H.), s. 285-293. 3-540-58383-1.
    [JRDC International Symposium. Tsukuba (JP), 17.11.1993-18.11.1993]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010531
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029864
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.