Výsledky vyhledávání
- 1.0210512 - UTAM-F 20033035 RIV SIGLE CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vavřík, Daniel - Jakůbek, J. - Pospíšil, S. - Visschers, J. - Zemánková, Jaroslava
Non destructive observation of damage processes by X-Ray dynamic defectoscopy.
Engineering Mechanics 2003. Praha: ÚTAM AV ČR, 2003 - (Náprstek, J.; Fischer, C.), s. 136. ISBN 80-86246-18-3.
[Engineering Mechanics 2003. Svratka (CZ), 12.05.2003-15.05.2003]
Grant CEP: GA ČR GA106/00/D064
Grant ostatní: GA HPMF(XE) CT200001066
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2071913; CEZ:MSM 210000018
Klíčová slova: Damage, X-ray, Defectoscopy
Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0106065 - 2.0210500 - UTAM-F 20033022 RIV SIGLE IL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vavřík, Daniel - Jakůbek, J. - Pospíšil, S. - Visschers, J.
Non-destructive observation of damage processes by X-Ray dynamic defectoscopy.
Proceedings of the 9th International Conference on the Mechanical Behaviour of Materials. BenGurion Airport: Kenes International, 2003, s. -.
[International Conference on the Mechanical Behaviour of Materials /9./. Geneva (CH), 25.05.2003-29.05.2003]
Grant CEP: GA ČR GA106/00/D064
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2071913
Klíčová slova: Materials Science * Fracture mechanics * Defectoscopy
Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0106054 - 3.0210396 - UTAM-F 20023022 RIV SIGLE CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jakubek, J. - Vavřík, Daniel - Pospíšil, S. - Visschers, J.
Resolution and stability tests of Medipix-1 pixel detector for X-ray dynamic defectoscopy.
IWORID 2002. Amsterdam: NIKHEF, 2002, s. 1.
[International Workshop on Radiation Imaging Detectors /4./. Amsterdam (NL), 08.09.2002-12.09.2002]
Grant CEP: GA ČR GA106/00/D064
Grant ostatní: HPMF-CT(XE) 2000-01066
Výzkumný záměr: CEZ:MSM 210000018
Klíčová slova: Defectoscopy * X-ray and gamma-ray measurements * Semiconductor pixel detectors
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0105950 - 4.0210395 - UTAM-F 20023021 RIV SIGLE PL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vavřík, Daniel - Jakubek, J. - Visschers, J. - Pospíšil, Stanislav - Zemánková, Jaroslava
X-ray Dynamical Defectoscopy: A way to Study Damage Processes.
ECF 14, Fracture Mechanics Beyond 2000. Cracow: European Structural Integrity Society and American Society forTesting and Materials, 2002 - (Neimitz, A.; Rokach, I.; Kocanda, D.; Golos, K.), s. 10. ISBN 83-88906-09-7.
[European Conference on Fracture /14./. Cracow (PL), 08.09.2002-13.09.2002]
Grant CEP: GA ČR GA106/00/D064
Grant ostatní: HPMF(XE) 01066/00
Výzkumný záměr: CEZ:MSM 210000018
Klíčová slova: Defectoscopy * Fracture mechanics * Damage
Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0105949 - 5.0210266 - UTAM-F 20013021 RIV SIGLE CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vavřík, Daniel - Korouš, Jan - Zemánková, Jaroslava - Jaroš, P.
Optical Determination of Constitutive Equations Parametersof Nonlinear Materials.
Experimentální Analýza Napětí 2001. Prague: Czech Technical University in Prague, 2001 - (Jírová, J.), s. 335-340
[Experimentální analýza napětí 2001. Tábor (CZ), 04.06.2001-06.06.2001]
Grant CEP: GA ČR GA106/00/D064; GA ČR GA106/99/1467
Klíčová slova: Tvergaard damage model. * Optical experimental method, Grid method, Nonlinearfracture mechanics, Gurson.
Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0105820