Výsledky vyhledávání
- 1.0109096 - UPT-D 20040101 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
Very Low Energy Scanning Electron Microscope.
[Rastrovací elektronový mikroskop s pomalými elektrony.]
G.I.T. Imaging and Microscopy. Roč. 6, č. 4 (2004), s. 47-49. ISSN 1439-4243
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065405
Klíčová slova: Scanning Electron Microscope * SLEEM * SLETEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016208 - 2.0028804 - ÚPT 2006 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Oral, Martin
Výpočet aberačních koeficientů regresí a jejich využití při výpočtu proudové hustoty svazků.
[Computation of aberration coefficients by fitting and their use for calculation of current density in beams.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 50, č. 2 (2005), s. 49-51. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB2065405
Klíčová slova: scanning ion microscope * electron optics * spot profiles
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0118711 - 3.0022440 - ÚPT 2006 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
Rastrovací elektronový mikroskop pro studium povrchů.
[Scanning electron microscope for surface study.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 50, č. 3 (2005), s. 79-81. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB2065405
Klíčová slova: Ultrahigh vacuum * Scanning Low Energy Electron Microscopy * Auger spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111180