Výsledky vyhledávání
- 1.0205668 - UPT-D 20030050 RIV CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Mika, Filip
Scanning electron microscopy with low energy electrons.
Proceedings of the 9th Conference and Competition Student EEICT 2003 - Papers written by postgraduate students. Brno: Brno University of Technology, 2003 - (Řezáč, D.; Zacios, D.), s. 485 - 489. ISBN 80-214-2379-X.
[STUDENT EEICT 2003. Brno (CZ), 24.04.2003]
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065301
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscopy * critical energy * nonconductors
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101281 - 2.0109114 - UPT-D 20040119 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Mika, Filip
Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů.
[Quantitative Study of Dopant Distribution in a Semiconductor Using Secondary Electron Emission.]
PDS 2003 - Sborník prací doktorandů prezentovaných na Semináři oddělení Elektronové optiky na počátku roku 2004. Brno: Ústav přístrojové techniky, 2004 - (Müllerová, I.), s. 39 - 42. ISBN 80-239-2268-8.
[PDS 2003 Seminář doktorandů oboru Elektronová optika. Brno (CZ), 30.01.2004]
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065301
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: Secondary Electron Emission * Dopant Distribution * Semiconductors
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016226 - 3.0022564 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Mika, Filip
Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů.
[Quantitative 2D dopant profiling in semiconductor by the secondary electron emission.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 37-42. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB2065301
Klíčová slova: dopant * semiconductor * se contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111292