Výsledky vyhledávání
- 1.0205669 - UPT-D 20030051 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip
Scanning electron microscopy with low energy electrons.
Proceedings of the International Conference and Competition Student EEICT 2003. Brno: Brno University of Technology, 2003 - (Řezáč, D.; Zacios, D.), s. 194 - 198. ISBN 80-214-2401-X.
[STUDENT EEICT 2003. Brno (CZ), 24.04.2003]
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065301
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscopy * critical energy * nonconductors
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101282 - 2.0109047 - UPT-D 20040048 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Frank, Luděk
Contrast Generation in Low Energy SEM Imaging of Doped Semiconductor.
[Tvorba kontrastu při zobrazení dopovaného polovodiče v nízkoenergiovém REM.]
Proceedings of the 9th International Seminar Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, 2004 - (Müllerová, I.), s. 51-52. ISBN 80-239-3246-2.
[Recent Trends /9./ in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský Dvůr (CZ), 12.07.2004-16.07.2004]
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065301
Klíčová slova: low energy SEM * doped semiconductor
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016159 - 3.0022409 - ÚPT 2006 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zobačová, Jitka - Mika, Filip - Zobač, Martin - Frank, Luděk
Corrections of Magnification and Focusing in a Low Energy SEM.
[Korekce zvětšení a zaostření v SEM s katodovou čočkou.]
Proceedings - Microscopy Conference 2005 - Dreiländertagung /6./. Villigen: Paul Scherrer Institute, 2005, s. 64. ISBN N. ISSN 1019-6447.
[Dreiländertagung Microscopy Conference (MC 2005). Davos (CH), 28.08.2005-02.09.2005]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB2065301
Klíčová slova: Low energy * Catode lens * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111149