Výsledky vyhledávání
- 1.0421395 - ÚFM 2014 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Meduňa, M. - Caha, O. - Kuběna, J. - Kuběna, A. - Svoboda, Milan - Buršík, Jiří
Oxygen Precipitation in CZ Si Wafers after High Temperature.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.). ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: oxygen precipitation * Si wafers
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228230 - 2.0421391 - ÚFM 2014 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Caha, O. - Meduňa, M. - Bernatová, S. - Růžička, J. - Mikulík, P. - Buršík, Jiří - Svoboda, Milan - Bernstorff, S.
X-ray scattering study of oxide precipitates in Cz-Si.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.). ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: x-ray * silicon * defects
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228231 - 3.0356659 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mandát, Dušan - Pech, Miroslav - Palatka, Miroslav - Nožka, Libor - Nováková, P. - Hrabovský, M. - Schovánek, Petr
Measurement of scattering properties of ultrathin glass mirrors.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 419-425. ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1M06002; GA MŠMT(CZ) LA08016
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: ultrathin glass mirrors
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006351 - 4.0356657 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Palatka, Miroslav - Mandát, Dušan - Pech, Miroslav - Nožka, Libor - Nováková, P. - Marek, M. - Hrabovský, M. - Schovánek, Petr
Near UV filter optical properties.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 403-418. ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1M06002; GA MŠMT(CZ) LA08016
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: fluorescence telescopes * UV filter
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006350 - 5.0356654 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Chmelíčková, Hana - Lapšanská, Hana - Nožka, Libor
Spectroscopic method for the laser welding quality control.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 395-398. ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Grant CEP: GA AV ČR KAN301370701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: laser welding * defect control * spectroscopy * pulsed Nd:YAG laser
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006349 - 6.0356651 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lapšanská, Hana - Schovánek, Petr
Laser scanning confocal microscopy for 3D surface mapping.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 435-440. ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Grant CEP: GA AV ČR KAN301370701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: laser scanning * 3D surface mapping
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006348 - 7.0356592 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Havelková, Martina - Schovánek, Petr
FEM simulation of thermal differences in semi finished glass pieces during the cooling.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 297-298. ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Grant CEP: GA AV ČR KAN301370701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: heat treatment * numerical simulation * finite element method (FEM)
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006344 - 8.0356591 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Havelková, Martina - Hiklová, Helena
Silicon monocrystal wafers ground with various abrasive materials.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 289-290. ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1M06002; GA AV ČR KAN301370701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: silicon monocrystal * abrasive materials
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006343 - 9.0356590 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hiklová, Helena
2D and 3D mapping of solid surfaces using Form Talysurf Series 2 device.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 293-295. ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1M06002; GA AV ČR KAN301370701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: talysurf * surface mapping
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006342 - 10.0356589 CZ BXXS
Vojtěchovský, K. (ed.)
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference.
Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010. ISBN 978-80-254-7361-0