Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0335300 - ÚPT 2010 RIV CZ eng G - Konferenční sborník (zahraniční konf.)
    Pokorná, Zuzana (ed.) - Mika, Filip (ed.)
    Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09).
    Brno: ISI AS CR, 2009. 36 s. ISBN 978-80-254-4535-8.
    [CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: ISI ASCR * University of Toyama
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179806
     
     
  2. 2.
    0335299 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Schauer, F. - Schauer, Petr - Kuřitka, I. - Hua, B.
    Conjugated Silicon – Based Polymer Resists for Nanotechnologies: EB and UV Mediated Degradation Processes in Polysilanes.
    Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 28. ISBN 978-80-254-4535-8.
    [CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: photoluminescence * cathodoluminescence * silicon-based polymer resist
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179805
     
     
  3. 3.
    0335298 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
    Mapping the Local Density of States by Very Low Energy Scanning Electron Microscope.
    Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 26. ISBN 978-80-254-4535-8.
    [CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopes * polycrystalline aluminium
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179804
     
     
  4. 4.
    0335297 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Horiba, K. - Mikmeková, Šárka - Frank, Luděk
    Orientation of Grains in the Al-Mg-Si-Mn Alloy by Scanning Low Energy Electron Microscopy.
    Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 21. ISBN 978-80-254-4535-8.
    [CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: EBSD * SEM * grains orientation * Al-Mg-Si-Mn alloy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179803
     
     
  5. 5.
    0335296 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Fořt, Tomáš - Frank, Luděk
    Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy.
    Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 22. ISBN 978-80-254-4535-8.
    [CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: transmission electron microscope * scanning low energy electron microscopes
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179802
     
     
  6. 6.
    0335295 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mizutani, M. - Matsuda, K. - Ikeno, S. - Nashimura, K. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Effect of the Matrix on Superconductive Characteristic of the MgB2 Composite Material.
    Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 20. ISBN 978-80-254-4535-8.
    [CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: MgB2/AL composite * SLEEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179801
     
     
  7. 7.
    0335294 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L.
    Study of the Microstructure of the UFG Copper in UHV SLEEM.
    Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 19. ISBN 978-80-254-4535-8.
    [CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
    Grant CEP: GA MŠMT OE08012
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: UHV SLEEM * EBSD * grain orientations
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179800
     
     
  8. 8.
    0335293 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Frank, Luděk - Mikulík, P.
    Profiling of N-Type Dopants in Silicon Based Structures.
    Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 14. ISBN 978-80-254-4535-8.
    [CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
    Grant CEP: GA ČR GP102/09/P543; GA AV ČR IAA100650803
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: n-type substrate * SEM * PEEM * doping levels
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179799
     
     
  9. 9.
    0335292 CZ BXXS
    Pokorná, Zuzana (ed.) - Mika, Filip (ed.)
    Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09).
    Brno: ISI AS CR, 2009. ISBN 978-80-254-4535-8
     
     
  10. 10.
    0077777 CZ BXXS
    Müllerová, I. (ed.)
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation.
    Brno: ISI AS CR, 2006. ISBN 80-239-6285-X
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.