Výsledky vyhledávání
- 1.0384097 - ÚPT 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Characterization of the local crystallinity via reflectance of very slow electrons.
Applied Physics Letters. Roč. 100, č. 26 (2012), 261602:1-4. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very slow electrons * crystal system * electron backscatter diffraction analyses
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 3.794, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213844 - 2.0383741 - ÚPT 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
A method of imaging ultrathin foils with very low energy electrons.
Ultramicroscopy. Roč. 119, AUG (2012), s. 79-81. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very low energy STEM * penetration of very slow electrons * graphene
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.470, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213588 - 3.0352509 - ÚPT 2011 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
Examination of Very Thin Free-standing Films with Slow Electrons.
Proceedings of 5th Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology. Toyama: University of Toyama, 2010, s. 45-48. ISBN 978-4-9903248-2-7.
[JCNCS2010 /5./ Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology. Toyama (JP), 12.09.2010-15.09.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: very low energy STEM * penetration of very slow electrons * graphene
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192001 - 4.0340747 - ÚPT 2010 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Hanzlíková, Renáta - Frank, Luděk
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films.
Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 265-270. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * thin foils * transmission of very slow electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.779, rok: 2010
http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/265.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183928 - 5.0205449 - UPT-D 20010089 CZ cze D - Dizertace
Müllerová, Ilona
Rastrovací mikroskopie pomalými elektrony - doktorská disertační práce.
[Scanning Microscopy by Slow Electrons.]
České vysoké učení technické v Praze, Fakulta elektrotechnická. 20011016. - Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR. 119 s.
Klíčová slova: slow and very slow electrons * low vacuum SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101062 - 6.0109098 - UPT-D 20040103 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
Examination Of Nanostructures By Electron Beam.
[Studium nanostruktur elektronovým svazkem.]
EMAS 2004 - 6th Regional Workshop on Electron Probe Analysis Today - Practical Aspects. Bled: European Microbeam Analysis Society, 2004, s. 139.
[EMAS 2004 /6./ Electron Probe Analysis Today - Practical Aspects. Bled (SI), 08.05.2004-11.05.2004]
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065405
Klíčová slova: scanning electron microscope * scanning Auger electron microscopy * very slow electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016210 - 7.0049017 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona
Cathode Lens Mode in the Scanning Electron Microscope.
[Režim katodové čočky v rastrovacím elektronovém mikroskopu.]
Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 49-52. ISBN 80-239-6285-X.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: cathode lens mode * SEM * very slow electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139514 - 8.0022568 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Pokorná, Zuzana
Zobrazení lokální hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů.
[Local density of states mapping using the reflection of very slow electrons.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 55-56. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/04/0281
Klíčová slova: local density of states * very slow electrons * dopant distribution
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111296