Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0511377 - FZÚ 2020 RIV SK slo C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Szabó, Ondrej - Kromka, Alexander - Ižák, Tibor - Varga, Marián - Potocký, Štěpán
    Vákuové technológie vo výrobnom procese diamantových senzorov pre detekciu organických a anorganických látok.
    [Vacuum technologies in the fabrication process of diamond-based sensors for detection of organic and anorganic materials.]
    Conference Proceeding of 21st School of Vacuum Technology - Science Without Vacuum? Bratislava: Slovenská vákuová spoločnosť, 2019 - (Michalka, M.; Vincze, A.), s. 101-105. ISBN 978-80-99905-01-7.
    [School of Vacuum Technology - Science Without Vacuum? /21./. Štrbské Pleso (SK), 01.10.2019-04.10.2019]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760; GA ČR(CZ) GA17-19968S
    Grant ostatní: OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: diamond * vacuum technologies * sensorics
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0301664
     
     
  2. 2.
    0094361 - ÚPT 2008 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Lazar, Josef - Zemánek, Pavel - Starčuk jr., Zenon - Jurák, Pavel - Sobota, Jaroslav - Müllerová, Ilona
    Methodology for experimentation, diagnostics and nanotechnologies.
    [Metodika pro experimenty, diagnostiku a nanotechnologii.]
    Proceedings of 2007 Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology. Toyama: IKENO Laboratory, University of Toyama, 2007 - (Nishimura, K.; Matsuda, K.), s. 9-10. ISBN 978-4-9903248-1-0.
    [Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology 2007. Toyama (JP), 14.11.2007-17.11.2007]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: optical frequency standards * interferometry * micro- and nano-manipulation with light beams * magnetic resonance spectroscopic imaging * vacuum technologies * particle beam technologies * very low energy electron microscopy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0154188
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.