Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0205670 - UPT-D 20030052 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Zobačová, Jitka - Frank, Luděk
    Specimen Charging and Detection of Signal from Non-conductors in a Cathode Lens-Equipped Scanning Electron Microscope.
    Scanning. Roč. 25, č. 3 (2003), s. 150 - 156. ISSN 0161-0457. E-ISSN 1932-8745
    Grant CEP: GA AV ČR IBS2065017
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: nonconductive specimens * specimen charging * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 0.733, rok: 2003
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101283
     
     
  2. 2.
    0205377 - UPT-D 20010016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Frank, Luděk - Zadražil, Martin - Müllerová, Ilona
    Scanning Electron Microscopy of Nonconductive Specimens at Critical Energies in a Cathode Lens System.
    Scanning. Roč. 23, č. 1 (2001), s. 36-50. ISSN 0161-0457. E-ISSN 1932-8745
    Grant CEP: GA ČR GA202/96/0961; GA ČR GA202/99/0008
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * specimen charging * nonconductive specimens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 0.389, rok: 2001
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100991
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.