Výsledky vyhledávání
- 1.0432079 - FZÚ 2015 CZ eng D - Dizertace
Hývl, Matěj
Study of silicon nanostructures by microscopic methods.
České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská. - Praha: ČVUT, 2014. 72 s.
Grant CEP: GA MPO FR-TI2/736; GA ČR GA13-12386S; GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA ČR GB14-37427G
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101216
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon nanostructures * AFM * Raman intensity mapping * nanoindentation * radial junctions * Si NWs * LPC polycrystalline silicon thin films
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236555 - 2.0391268 - FZÚ 2014 CZ eng A - Abstrakt
Stuchlík, Jiří - Stuchlíková, The-Ha - Dřínek, Vladislav - Remeš, Zdeněk - Kočka, Jan
Nanoparticles in hydrogenated silicon.
Development of Materials Science in Research and Education, Book of Abstracts of the 22nd Joint Seminar. Praha: Czechoslovak Association for Crystal Growth (CSACG), 2012 - (Kožíšek, Z.; Nitsch, K.). s. 65-65. ISBN 978-80-260-2357-9.
[Joint Seminar – Development of materials science in research and education /22./. 03.09.2012-07.09.2012, Lednice]
Grant CEP: GA ČR GA203/09/1088; GA MŠMT LC510; GA MŠMT LH12236
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Institucionální podpora: RVO:67985858
Klíčová slova: silicon thin films * solar cells
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0220369 - 3.0386629 - FZÚ 2013 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Fejfar, Antonín - Neykova, Neda - Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Itoh, T. - Nakanishi, Y. - Nakamura, S. - Vaněček, Milan - Kočka, Jan
Microscopic study of electronic properties of individual components of nanostructured solar cells.
Proceedings of the 27th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. München: WIP Wirtschaft und Infrastruktur GmbH & Co Planungs KG, 2012 - (Nowak, S.), s. 509-511. ISBN 3-936338-28-0.
[European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (PVSEC) /17./. Frankfurt (DE), 24.09.2012-28.09.2012]
Grant CEP: GA MŠMT 7E10061; GA ČR(CZ) GAP108/11/0937; GA MŠMT(CZ) 7E09057; GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA MPO FR-TI2/736
GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode; European Commission(XE) 214134 - N2P
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101217
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: silicon thin films * nanostructures * nanowires * conductive atomic force microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215978 - 4.0355935 - FZÚ 2011 DE eng A - Abstrakt
Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Fejfar, Antonín - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
Charge transport through grain boundaries in mixed phase silicon thin films studied by conductive atomic force microscopy.
Proceedings of the 25th European Photovoltaic Solar Energy Conference / 5th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion. München: WIP-Renewable energies, 2010. s. 5-5. ISBN 3-936338-26-4.
[European Photovoltaic Solar Energy Conference /25./ and World Conference on Photovoltaic Energy Conversion /5./. 06.09.2010-10.09.2010, Valencia]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: grain boundaries * silicon thin films * conductive atomic force microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194591 - 5.0355933 - FZÚ 2011 DE eng A - Abstrakt
Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Relative measurement of light trapping in silicon thin films by Raman spectroscopy.
Proceedings of the 25th European Photovoltaic Solar Energy Conference / 5th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion. München: WIP-Renewable energies, 2010. s. 4-4. ISBN 3-936338-26-4.
[European Photovoltaic Solar Energy Conference /25./ and World Conference on Photovoltaic Energy Conversion /5./. 06.09.2010-10.09.2010, Valencia]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: silicon thin films * Raman spectroscopy * solar cells
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194589 - 6.0347825 - FZÚ 2011 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Fejfar, Antonín - Vetushka, Aliaksi - Kalusová, V. - Čertík, Ondřej - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
Relation of nanoscale and macroscopic properties of mixed-phase silicon thin films.
Physica Status Solidi A. Roč. 207, č. 3 (2010), s. 582-586. ISSN 1862-6300. E-ISSN 1862-6319
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: conductive atomic force microscopy (C-AFM) * mixed phase silicon thin films
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.458, rok: 2010
http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200982907
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0188510 - 7.0341951 - FZÚ 2010 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Mates, Tomáš - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan - Bronsveld, P.C.P. - Rath, J.K. - Schropp, R.E.I.
C-AFM and X-TEM: studies of mixed-phase silicon thin films.
[C-AFM a X-TEM: zkoumání heterostrukturních tenkých vrstev křemíku.]
G.I.T. Imaging and Microscopy. Roč. 10, č. 1 (2008), s. 30-32. ISSN 1439-4243
Grant CEP: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Klíčová slova: conductive atomic force microscopy * cross-sectional transmission electron microscopy * silicon thin films
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0184790 - 8.0339843 - FZÚ 2010 RIV CZ cze A - Abstrakt
Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Mapování polovodičových struktur s sub-mikronovým rozlišením pomocí Ramanova rozptylu a fotoluminiscence.
[Mapping of semiconducting structures with sub-micron resolution by Raman and photoluminiscence spectroscopy.]
XII. konference Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkumu a aplikacích. Brno: Masarykova univerzita Brno, 2009. s. 6. ISBN N.
[Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkumu a aplikacích /12./. 22.06.2009-24.06.2009, Brno]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: Raman spectroscopy * silicon thin films * GaN
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183246 - 9.0339516 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Ledinský, Martin - Stuchlík, Jiří - Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Decomposition of mixed phase silicon Raman spectra.
Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology — 2009. Warrendale, PA: Materials Research Society, 2009 - (Flewitt, A.; Wang, Q.; Hou, J.; Uchikoga, S.; Nathan, A.), s. 15-20. Material Research Society Symposium Proceedings, 1153. ISBN 978-1-60511-126-1.
[MRS spring meating 2009. San Francisco, CA (US), 13.04.2009-17.04.2009]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: Raman spectroscopy * silicon thin films * photovoltaics
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://www.mrs.org/s_mrs/sec_subscribe.asp?TrackID=FVBMVC5NCPA3LSSGPWPGMZURP3UMFBBT&CID=18437&DID=243429
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183023 - 10.0338215 - FZÚ 2010 RIV LU eng A - Abstrakt
Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
Probing charge transport in hydrogenated micro-crystalline silicon thin films with nanometer resolution.
[Měření transportu náboje v tenkých vrstvách hydrogenovaného mikrokrystalického křemíku s nanometrovým rozlišením.]
EuroNanoForum 2009 - Nanotechnology for Sustainable Economy. Luxembourg: Office for Official Publications of the European Communities, 2009 - (Fantechi, S.; Havlíčková, L.; Svobodová, E.; Fryček, R.; Albrecht, V.). s. 109. ISBN 978-92-79-11109-9.
[EuroNanoForum 2009. 02.06.2009-05.06.2009, Prague]
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: charge transport * silicon thin films * conductive atomic force microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0182052