Výsledky vyhledávání

0566461 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Neděla, Vilém - Tihlaříková, Eva - Martinů, P. - Macálka, A.
Prototyp nového chlazeného držáku vzorku s integrovaným vysoce účinným ionizačním detektorem signálních elektronů pro EREM.
[Prototype of a new cooled sample holder with an integrated high-efficiency ionization detector of signal electrons for ESEM.]
Interní kód: APL-2022-07 ; 2022
Technické parametry: Parametry chlazeného držáku vzorku: Rozsah teplot: -60 °C až +30 °C, rozsah volitelné rychlosti náběhu teploty: 1 až 30 °C/min, teplotní stabilita: ± 0,2 %, rozlišení displeje: 0,1 °C, možnost úpravy P a D složky PID regulátoru a připojení až čtyř teplotních čidel pro přesnější regulaci. Parametry Ionizačního detektoru signálních elektronů: Rozsah pracovního (ionizačního) napětí: 0 – 450 V, vhodný pro práci v tlaku 50–2000 Pa v komoře vzorku (vodní páry i N2), schopnost detekce signálu v podmínkách urychlovacího napětí elektronů v rozsahu 500 V- 30 kV a proudu svazku 1 pA – 10 nA. Univerzálně použitelný pro studium živí i neživé přírody.
Ekonomické parametry: Prototyp realizovaný při řešení projektu CZ.01.1.02/0.0/0.0/17_176/0015020 s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení dle podmínek Smlouvy o účasti na řešení projektu „High-tech chlazený držák vzorků s integrovanou detekcí elektronů a řídicím softwarem pro optimalizaci termodynamických podmínek v komoře vzorku EREM“ a o využití výsledků výzkumu a vývoje. Ekonomický přínos bude realizován příjemcem projektu, firmou NUM solution s.r.o., IČ: 04199766, DIČ: CZ04199766 se sídlem Srbská 2741/53, 612 00 Brno-Královo Pole. Kontakt: doc. Ing. et Ing. Vilém Neděla, Ph.D.
Grant CEP: GA MPO(CZ) EG17_176/0015020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: ESEM * sample cooling * PID regulation * detection * signal electrons * ionisation
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337915

0536587 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Seďa, B. - Vašina, R. - Oral, Martin - Řiháček, Tomáš - Radlička, Tomáš
Nástavec pro objektivovou čočku.
[Objective lens extender.]
Interní kód: APL-2020-09 ; 2020
Technické parametry: Extender je prstenec s upínacím mechanizmem, který se umístí na spodní pól objektivové čočky skenovacího elektronového mikroskopu. Extender je vyroben z magneticky vodivého materiálu – permalloy Ni48. Pomocí extenderu se změní parametry magnetického imerzního pole objektivové čočky: maximální magnetická indukce a poloha tohoto maxima.Vedle změny parametrů magnetické finální čočky se také změní vlastnosti elektrostatické finální čočky. Pomocí extenderu je možné získat lepší laterální rozlišení a změnu v akceptaci signálních elektronů na detektorech umístěných v tubusu mikroskopu. Přínos extenderu pro zlepšení vlastností skenovacího elektronového mikroskopu se mění podle operačních podmínek.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Martin Oral, Ph.D., oral@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscope * variable objective lens * acceptance of signal electrons * secondary electrons * resolution * immersion field
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314350

0481148 - ÚPT 2018 AT eng A - Abstrakt
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
What’s next in Scanning Low Energy Electron Microscopy?
Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons (SIMDALEE2017). Book of Abstracts. Wien: Technische Universitaet Wien, 2017. s. 22.
[SIMDALEE2017. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons. 18.09.2017-22.09.2017, Pula]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SLEEM * primary beam energy * signal electrons
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276751

0205506 - UPT-D 20020056 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Horáček, Miroslav
Acquisition of multi-dimensional image in the scanning electron microscope.
Proceedings of the 8^th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 37 - 38. ISBN 80-238-8986-9.
[Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
Grant CEP: GA ČR GA102/00/P001
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: signal electrons * angular distribution
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101119

0049023 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Wandrol, Petr - Müllerová, Ilona
Detection of Signal Electrons in the Low Voltage SEM.
[Detekce signálních elektronů v nízkonapěťové SEM.]
Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 71-72. ISBN 80-239-6285-X.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650501
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: signal electrons * detection * low voltage SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139520