Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0372290 - FZÚ 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Campbellová, A. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Pérez, R. - Klapetek, P. - Jelínek, Pavel
    ´Sub-atomic´ resolution of non-contact atomic force microscope images induced by a heterogeneous tip structure: a density functional theory study.
    Nanotechnology. Roč. 22, č. 29 (2011), 295710/1-295710/7. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100905; GA ČR GAP204/10/0952; GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
    Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100904
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: density functional theory * atomic force microscope * semiconductor surface * sub-atomic resolution
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 3.979, rok: 2011
    http://iopscience.iop.org/0957-4484/22/29/295710
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205643
     
     
  2. 2.
    0339531 - FZÚ 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Sadewasser, S. - Jelínek, Pavel - Fang, Ch.-K. - Custance, Ó. - Yamada, Y. - Sugimoto, Y. - Abe, M. - Morita, S.
    New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors.
    Physical Review Letters. Roč. 103, č. 26 (2009), 266103/1-266103/4. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
    Grant CEP: GA ČR GA202/09/0545; GA AV ČR IAA100100905
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: KPFM * atomic force microscopy * DFT * atomic resolution * semiconductor surface
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 7.328, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183034
     
     
  3. 3.
    0133526 - FZU-D 20010221 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Strasser, T. - Solterbeck, C. - Schattke, W. - Bartoš, Igor - Cukr, Miroslav - Jiříček, Petr
    Valence-band photoemission from GaAs(100)-c(4x4).
    Physical Review. B. Roč. 63, - (2001), s. 085309-1-085309-8. ISSN 0163-1829
    Výzkumný záměr: CEZ:A02/98:Z1-010-914
    Klíčová slova: electronic structure * reconstructed (1001 semiconductor surface * one-step model of photoemission
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 3.070, rok: 2001
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031491
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.