Výsledky vyhledávání
- 1.0583098 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Tolias, P. - Komm, Michael - Ratynskaia, S. - Podolník, Aleš
ITER relevant multi-emissive sheaths at normal magnetic field inclination.
Nuclear Fusion. Roč. 63, č. 2 (2023), č. článku 026007. ISSN 0029-5515. E-ISSN 1741-4326
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_013/0001551
GRANT EU: European Commission(BE) 101052200
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: emissive sheath * escaping current density * macroscopic melt motion * Schottky effect * secondary electron emission * thermionic emission
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 3.3, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1741-4326/acaabd
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0351096
Vědecká data: Zenodo - 2.0575337 - ÚPT 2024 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Nohl, J. F. - Farr, N. T. H. - Sun, Y. - Hughes, G. M. - Stehling, N. - Zhang, J. - Longman, F. - Ives, G. - Pokorná, Zuzana - Mika, Filip - Kumar, V. - Mihaylova, L. - Holland, C. - Cussen, S. A. - Rodenburg, C.
Insights into surface chemistry down to nanoscale: An accessible colour hyperspectral imaging approach for scanning electron microscopy.
Materials Today Advances. Roč. 19, August (2023), č. článku 100413. ISSN 2590-0498. E-ISSN 2590-0498
Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
Program: StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: chemical imaging * secondary electron hyperspectral imaging * scanning electron microscopy * secondary electrons * machine learning
Obor OECD: Coating and films
Impakt faktor: 10, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2590049823000735
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0345124 - 3.0566540 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Pokorná, Zuzana
Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM.
[Calibration standard sample for secondary electron spectroscopy in SEM.]
Interní kód: APL-2022-11 ; 2022
Technické parametry: Kalibrační vzorek obsahující mikrometrové struktury s různých materiálů vykazující odlišnou emisivitu sekundárních elektronů. Tloušťka jednotlivých materiálů je 150um a šířka proužků ze stříbra a chromu je 2 respektive 1 um.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: test sample * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337867 - 4.0550826 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Mika, Filip - Pokorná, Zuzana - Dupák, Libor
Manipulátor s mikrometrickým posuvem pro miniaturizovaný spektrometr sekundárních elektronů.
[Manipulator with micrometric shift for a miniaturised secondary electron spectrometer.]
Interní kód: APL-2021-06 ; 2021
Technické parametry: Manipulátor držáku vzorku tvaru pravidelného osmihranu, kde pojezdy jsou realizovány formou tří bronzových pružin. Ty svírají mezi sebou úhel 120°, přičemž umožňují posun v rozsahu +- 1mm s přesností 10μm v každé ose nezávisle.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D., fumici@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: manipulator * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326134 - 5.0536450 - ÚFP 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Tolias, P. - Komm, Michael - Ratynskaia, S. - Podolník, Aleš
Origin and nature of the emissive sheath surrounding hot tungsten tokamak surfaces.
Nuclear Materials and Energy. Roč. 25, December (2020), č. článku 100818. E-ISSN 2352-1791
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_013/0001551
GRANT EU: European Commission(XE) 633053 - EUROfusion
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Melt motion * Schottky effect * Secondary electron emission * Thermionic emission * Tungsten * Virtual cathode
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 2.320, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2352179120300922?via%3Dihub
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314225 - 6.0517631 - ÚPT 2020 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Mika, Filip - Dupák, Libor - Pokorná, Zuzana
Spektrometr pozorovací komory rastrovacího elektronového mikroskopu a rastrovací elektronový mikroskop s pozorovací komorou tento spektrometr obsahující.
[Scanning electron microscope observation spectrometer and scanning electron microscope with the observation chamber.]
2019. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 26.11.2019. Číslo vzoru: 33419
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electron * energy filtering * toroidal analyser
Obor OECD: Coating and films
https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302936 - 7.0517195 - ÚPT 2020 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Mika, Filip - Dupák, Libor - Pokorná, Zuzana
Miniaturizovaný analyzátor sekundárních elektronů.
[Miniaturized secondary electron analyser.]
Interní kód: APL-2019-19 ; 2019
Technické parametry: Funkční vzorek byl vyroben s cílem ověřit vlastnosti návrhu a konstrukce miniaturizovaného spektrometru sekundárních elektronů umístitelného dovnitř komory rastrovacího elektronového mikroskopu přímo na manipulátor vzorku. Spektrometr obsahuje ve směru průletu elektronů tyto prvky: vzorek, elektrodu vymezující úhlový rozsah diagnostikovaných elektronů, dvojici elektrod toroidního tvaru, napěťový a detekční systém. Energie primárního svazku: 2 keV, energie zkoumaných elektronů 0–50 eV, výška 28 mm, průměr 35 mm
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika Ph.D., mika@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electron * energy filtering * toroidal analyser
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302484 - 8.0511327 - ÚPT 2020 SK eng A - Abstrakt
Mika, Filip - Švarcová, Silvie - Pokorná, Zuzana - Hradil, David
Secondary electron hyperspectral imaging for the study of degradation processes in paintings.
7th Interdisciplinary ALMA Conference. Book of Abstracts. Bratislava: Slovak University of Technology, 2019. s. 72-73.
[Interdisciplinary ALMA Conference /7./. 16.10.2019-18.10.2019, Bratislava]
Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/6
Program: StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:61388980
Klíčová slova: secondary electron * hyperspectral imaging
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0301628 - 9.0510248 - ÚPT 2020 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Abrams, K.J. - Dapor, M. - Stehling, N. - Azzolini, M. - Kyle, S.J. - Schäfer, J.S. - Quade, A. - Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Pokorná, Zuzana - Konvalina, Ivo - Mehta, D. - Black, K. - Rodenburg, C.
Making Sense of Complex Carbon and Metal/Carbon Systems by Secondary Electron Hyperspectral Imaging.
Advanced Science. Roč. 6, č. 19 (2019), č. článku 1900719. E-ISSN 2198-3844
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: carbon orientations * carbon surface analysis * characterization * modeling * secondary electron emission * secondary electron hyperspectral imaging * secondary electron spectroscopy
Obor OECD: Coating and films
Impakt faktor: 15.840, rok: 2019
Způsob publikování: Open access
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/advs.201900719
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300765 - 10.0494367 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Pokorná, Zuzana - Konvalina, Ivo - Khursheed, A.
Possibilites of a secondary electrons bandpass filter for standard SEM.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 46-47. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electron * filtering * imaging
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0288493