Výsledky vyhledávání
- 1.0488809 - FZÚ 2018 RIV JP eng A - Abstrakt
Hývl, Matěj - Müller, Martin - Foldyna, M. - Roca i Cabarrocas, P. - Fejfar, Antonín
Application of microscopy methods for characterization of silicon nanostructures.
Abstracts of The Sixth International Education Forum on Environment and Energy Science. Tokyo: Academy for Co-creative Education of Environment and Energy Science, Tokyo Institute of Technology, 2017. s. 1-1.
[The Sixth International Education Forum on Environment and Energy Science. 15.12.2017-19.12.2017, Tenerife, Canary Islands]
Grant CEP: GA MŠMT LM2015087; GA MŠMT 7AMB16FR040; GA ČR GB14-37427G
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: C-AFM * Atomic force microscopy * radial junctions * nanowires * photovoltaics * silicon
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0283347 - 2.0452915 - FZÚ 2016 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Müller, Martin - Hývl, Matěj - Kratzer, M. - Teichert, C. - Misra, S. - Foldyna, M. - Yu, L. - Roca i Cabarrocas, P. - Itoh, T. - Hájková, Zdeňka - Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Kočka, Jan - Fejfar, Antonín
Investigating inhomogeneous electronic properties of radial junction solar cells using correlative microscopy.
Japanese Journal of Applied Physics. Roč. 54, č. 8 (2015), "08KA08-1"-"08KA08-5". ISSN 0021-4922. E-ISSN 1347-4065
Grant CEP: GA ČR GA14-15357S; GA MŠMT(CZ) 7AMB14ATE004; GA ČR GA13-25747S; GA ČR GA13-12386S; GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA ČR GB14-37427G
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101217
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: solar cells * radial junctions * silicon nanowires * correlative microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.122, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253810 - 3.0432079 - FZÚ 2015 CZ eng D - Dizertace
Hývl, Matěj
Study of silicon nanostructures by microscopic methods.
České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská. - Praha: ČVUT, 2014. 72 s.
Grant CEP: GA MPO FR-TI2/736; GA ČR GA13-12386S; GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA ČR GB14-37427G
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101216
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon nanostructures * AFM * Raman intensity mapping * nanoindentation * radial junctions * Si NWs * LPC polycrystalline silicon thin films
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236555