Výsledky vyhledávání
- 1.0481148 - ÚPT 2018 AT eng A - Abstrakt
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
What’s next in Scanning Low Energy Electron Microscopy?
Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons (SIMDALEE2017). Book of Abstracts. Wien: Technische Universitaet Wien, 2017. s. 22.
[SIMDALEE2017. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons. 18.09.2017-22.09.2017, Pula]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SLEEM * primary beam energy * signal electrons
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276751 - 2.0205652 - UPT-D 20030034 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Current trends in scanning low energy electron microscopy (SLEEM).
Proceedings of the 6th Multinational Congress on Microscopy - European Extension. Zagreb: Croatian Society for Electron Microscopy, 2003 - (Milat, O.; Ježek, D.), s. 85 - 86
[MCEM. Pula (HR), 01.06.2003-05.06.2003]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscopy * primary beam energy * field emission gun
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101265