Výsledky vyhledávání
- 1.0568420 - ÚPT 2023 RIV CZ eng A - Abstrakt
Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Konvalina, Ivo - Fořt, Tomáš - Materna Mikmeková, Eliška
Energy-based calibration for quantitative STEM measurements and comparison with 2D-PAD.
16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM, 04-09 September 2022, Brno, Czech Republic. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, 2022 - (Krzyžánek, V.; Hrubanová, K.; Hozák, P.; Müllerová, I.; Šlouf, M.). s. 450-451. ISBN 978-80-11-02253-2.
[Multinational Congress on Microscopy /16./. 04.09.2022-09.09.2022, Brno]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM segmented detector * pixelated detector * scanning electron microscopy * Monte Carlo simulations * ray tracing * quantitative imaging
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
https://www.16mcm.cz/wp-content/uploads/2022/09/16MCM-abstract-book.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339731 - 2.0551125 - ÚPT 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Müllerová, Ilona - Fořt, Tomáš - Unčovský, M. - Materna Mikmeková, Eliška
Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors.
Nanomaterials. Roč. 12, č. 1 (2022), č. článku 71. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/6
Program: StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM segmented detector * pixelated detector * scanning electron microscopy * Monte Carlo simulations * ray tracing * quantitative imaging
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 5.3, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/12/1/71
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326569 - 3.0550700 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Konvalina, Ivo - Sýkora, Jiří - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška
2D detekční systém pro odražené elektrony v UHV SLEEM.
[2D detection system for reflected electrons in UHV SLEEM.]
Interní kód: APL-2021-09 ; 2021
Technické parametry: Funkční vzorek 2D detekčního systému tvoří příruba s nosičem, na němž je uložena deska plošného spoje osazená senzorem a elektronickými součástkami. Součástí detektoru je řídící elektronika a obslužný software.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: pixelated detector * scanning * low energy electron microscopy * reflected electrons
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326005