Výsledky vyhledávání
- 1.0501458 - ÚPT 2020 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Kolařík, Vladimír - Horáček, Miroslav - Knápek, Alexandr - Krátký, Stanislav - Matějka, Milan - Meluzín, Petr
Spiral arrangement: From nanostructures to packaging.
Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 70, č. 1 (2019), s. 74-77. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X
Grant CEP: GA MPO FV10618; GA TA ČR TG03010046; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron beam lithography * phyllotaxis * spiral arrangement * parastichy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 0.686, rok: 2019
Způsob publikování: Open access
https://content.sciendo.com/view/journals/jee/70/1/article-p74.xml?lang=en
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0293484 - 2.0495256 - ÚPT 2019 CZ eng A - Abstrakt
Horáček, Miroslav - Meluzín, Petr - Krátký, Stanislav - Matějka, Milan - Knápek, Alexandr - Kolařík, Vladimír
Spiral Arrangement: from Nanostructures to Packaging.
IMAPS Flash Conference. 4th Interrnational Microelectronics Assembly and Packaging Society Flash Conference. Book of Abstracts. Brno: University of Technbology Brno, 2018. s. 62-63. ISBN 978-80-214-5680-8.
[IMAPS Flash Conference. Interrnational Microelectronics Assembly and Packaging Society Flash Conference /4./. 25.10.2018-26.10.2018, Brno]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron beam lithography * phyllotaxis * spiral arrangement * parastichy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0288490 - 3.0494364 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Horáček, Miroslav - Knápek, Alexandr - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Urbánek, M. - Mika, Filip - Kolařík, Vladimír
Hiding e-beam exposure fields by deterministic 2D pattering.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 36-37. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR TG03010046; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: phyllotaxis * electron beam lithography
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287595