Výsledky vyhledávání
- 1.0555972 - ÚFP 2023 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Špína, Michal - Procháska, František
Effect of change in a normative approach on he evaluation of surface scratches on high-precision optical surfaces.
Applied Optics. Roč. 61, č. 7 (2022), s. 1593-1599. ISSN 1559-128X. E-ISSN 2155-3165
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: normative approach * optical surfaces * surface scratches
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 1.9, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://opg.optica.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-61-7-1593
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0341083 - 2.0541106 - ÚFP 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Fortmeier, I. - Schachtschneider, R. - Lédl, Vít - Matoušek, Ondřej - Siepmann, J. - Harsch, A. - Beisswanger, R. - Bitou, Y. - Kondo, Y. - Schulz, M. - Elster, C.
Round robin comparison study on the form measurement of optical freeform surfaces.
Journal of the European Optical Society: Rapid publications. Roč. 16, č. 1 (2020), č. článku 2. E-ISSN 1990-2573
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Freeform optical surfaces * Interlaboratory comparison * Metrology
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 1.528, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://jeos.springeropen.com/track/pdf/10.1186/s41476-019-0124-1.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0318691 - 3.0537041 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Šarbort, Martin - Holá, Miroslava - Schovánek, P. - Řeřucha, Šimon - Oulehla, Jindřich - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
Zařízení pro měření drsnosti optických povrchů.
[Roughness measurement device for optical surfaces.]
Interní kód: APL-2020-14 ; 2020
Technické parametry: Rozsah X-Z skenování dx=200 mikronů s krokem 10 nm, dz=-+10mikronů s krokem 1nm, statické konfigurace senzoru pro měření drsnosti (axicon, wedge, 4-point) a dynamická konfigurace (prostorový modulátor světla). Nejistota měření < 1 mikrometr.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: prof. Ing. Josef Lazar, Dr., joe@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: rughness measurement * optical metrology * optical surfaces * cross-section scanning
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314796 - 4.0446118 - ÚFP 2016 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Psota, Pavel - Lédl, Vít - Vojtíšek, Petr
Zařízení pro měření tvaru optických povrchů, zejména povrchů difúzně reflexních.
[Device to measure shape of optical surfaces, especially diffusion-reflective surfaces.]
2015. Vlastník: Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 02.03.2015. Číslo vzoru: 27893
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TA03010893
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Optical surfaces measurement * Diffusion-reflective surfaces * Digital holography
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
http://spisy.upv.cz/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0027/uv027893.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0248082 - 5.0399550 - FZÚ 2014 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Havelková, Martina - Hiklová, H.
Several examples of using contact profilometer for optical surface mapping.
Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /18./. Bellingham: SPIE, 2012 - (Peřina jr., J.; Nožka, L.; Hrabovský, M.; Senderáková, D.; Urbańczyk, W.). Proceedings of SPIE, 8697. ISBN 978-0-8194-9481-8. ISSN 0277-786X.
[Czech-Polish-Slovak optical conference on wave and quantum aspects of contemporary optics /18./. Ostravice (CZ), 03.09.2012-07.09.2012]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: contact sensing * contact profilometer * mapping of optical surfaces
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0226837