Výsledky vyhledávání
- 1.0532029 - ÚPT 2021 RIV JO eng J - Článek v odborném periodiku
Knápek, Alexandr - Drozd, Michal - Matějka, Milan - Chlumská, Jana - Král, Stanislav - Kolařík, Vladimír
Automated System for Optical Inspection of Defects in Resist-coated Non-patterned Wafer.
Jordan Journal of Physics. Roč. 13, č. 2 (2020), s. 93-100. ISSN 1994-7607. E-ISSN 1994-7615
Grant CEP: GA MPO FV10618
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: optical inspection * resist layer * non-patterned wafer * quality control
Obor OECD: Automation and control systems
Způsob publikování: Open access
http://journals.yu.edu.jo/jjp/JJPIssues/Vol13No2pdf2020/1.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0310631 - 2.0480581 - FGÚ 2018 RIV CZ cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Matějka, Roman - Procházka, Václav - Ižák, Tibor - Štěpanovská, Jana - Kromka, Alexander - Trávníčková, Martina - Bačáková, Lucie
Kultivační komora pro in-vitro opticko-elektrické monitorování biologických kultur s impedančními opticky-transparentními diamantovými elektrodami.
[A cultivation chamber for in-vitro optical-electrical monitoring of biological cultures with impedance optical-transparent diamond electrodes.]
2017. Vlastník: Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. - Fyziologický ústav AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 18.05.2017. Číslo vzoru: 30691
Grant CEP: GA MZd(CZ) NV15-33018A
Institucionální podpora: RVO:67985823 ; RVO:68378271
Klíčová slova: cultivation chamber * optical inspection * diamond electrode
Obor OECD: Biomaterials (as related to medical implants, devices, sensors)
http://spisy.upv.cz/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0030/uv030691.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276329 - 3.0450639 - ÚPT 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Šarbort, Martin - Řeřucha, Šimon - Holá, Miroslava - Buchta, Zdeněk - Lazar, Josef
Self-referenced interferometer for cylindrical surfaces.
Applied Optics. Roč. 54, č. 33 (2015), s. 9930-9938. ISSN 1559-128X. E-ISSN 2155-3165
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01; GA ČR GA15-18430S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: metrological instrumentation * interferometric imaging * interferometry * surface measurements * optical inspection
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.598, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0251998