Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0426286 - ÚPT 2014 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
    Mikmeková, Šárka
    SMV-2012-20: Studium mikrostrukury žáropevných ocelí pomocí nekonvenčních metod elektronové mikroskopie.
    [SMV-2012-20: Examination of microstructure of heat-proof steels by means of unconventional methods of electron microscopy.]
    Brno: Západočeská univerzita v Plzni, 2012. 9 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: low voltage SEM * microstructure of steels * material contrast
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0232041
     
     
  2. 2.
    0426271 - ÚPT 2014 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
    Mikmeková, Šárka
    SMV-2012-15: Studium mikrostruktury žáropevných ocelí pomocí mikroskopie pomalými elektrony.
    [SMV-2012-15: Examination of microstructure of heat-proof steels by means of the low energy electron microscopy.]
    Brno: Výzkumný a zkušební ústav Plzeň, s.r.o, 2012. 14 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * CB2 steel * material contrast
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0232036
     
     
  3. 3.
    0315458 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Frank, Luděk
    Low Energy Electron Microscopy in Materials Science.
    [Nízko energiová elektronová mikroskopie v materiálových vědách.]
    Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 85-86. ISBN 978-80-254-0905-3.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
    Grant CEP: GA MŠMT OE08012
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: collection efficiency * cathode lens mode * material contrast
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165656
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.