Výsledky vyhledávání
- 1.0575427 - ÚPT 2024 RIV GB eng A - Abstrakt
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Daniel, Benjamin - Průcha, Lukáš - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška
Study of Graphene by Scanning Low Energy Electron Microscopy and Time-of-Flight Spectroscopy.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 29, S1 (2023), s. 1861-1862. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2023. 23.07.2023-27.07.2023, Minneapolis]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
Program: StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * time-of-flight spectroscopy * graphene
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://academic.oup.com/mam/article/29/Supplement_1/1861/7229038
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0345212 - 2.0571242 - ÚPT 2023 RIV CZ eng O - Ostatní výsledky
Müllerová, Ilona - Materna Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo
Contamination mitigation strategy for SEMs.
2022
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: contamination * low energy electron microscopy * 2D crystals
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0342513 - 3.0568482 - ÚPT 2023 RIV CZ eng A - Abstrakt
Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Konvalina, Ivo - Materna Mikmeková, Eliška - Průcha, Lukáš - Müllerová, Ilona - Charvátová Campbell, A.
Ab initio study of angle-resolved electron spectroscopy of graphene.
16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM, 04-09 September 2022, Brno, Czech Republic. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, 2022 - (Krzyžánek, V.; Hrubanová, K.; Hozák, P.; Müllerová, I.; Šlouf, M.). s. 156-157. ISBN 978-80-11-02253-2.
[Multinational Congress on Microscopy /16./. 04.09.2022-09.09.2022, Brno]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: density-functional theory * low-energy electron microscopy * many-body perturbation theory
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://www.16mcm.cz/wp-content/uploads/2022/09/16MCM-abstract-book.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339786 - 4.0565515 - ÚPT 2023 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Šárka - Aoyama, T. - Paták, Aleš - Zouhar, Martin
Electron reflectivity from clean and oxidized steel surface.
Surface and Interface Analysis. Roč. 54, č. 6 (2022), s. 667-676. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: density-functional theory * local density of states * low-energy electron microscopy * mirror microscopy * surface potential
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 1.7, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://analyticalsciencejournals.onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.7079
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337045 - 5.0551134 - ÚPT 2022 RIV US eng A - Abstrakt
Materna Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Lejeune, M. - Asefa, T.
Treatment and Observation of Advanced Carbon-based Nanomaterials by Slow Electrons.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 27, S2 (2020), s. 2682-2684. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: carbon based nanomaterials * low energy electron microscopy * contamination * cleaning
Obor OECD: Materials engineering
https://www.cambridge.org/core/journals/microscopy-and-microanalysis/article/treatment-and-observation-of-advanced-carbonbased-nanomaterials-by-slow-electrons/6CE85FB178C91C6867E73A3AEBD6DE2D
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326579 - 6.0551078 - ÚPT 2022 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Materna Mikmeková, Eliška
SMV-2021-67: Testování materiálů, které jsou klíčové pro boj proti pandemii (COVID-19) pomocí nízkonapěťové elektronové mikroskopie.
[SMV-2021-67: Testing of the materials crucial for the fight with COVID 19 pandemic using low energy electron microscopy.]
Brno: NAFIGATE Corporation, a.s., 2021. 6 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: Nanofibers * COVID 19 * scanning low energy electron microscopy * WCA * EDX
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326430 - 7.0550700 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Konvalina, Ivo - Sýkora, Jiří - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška
2D detekční systém pro odražené elektrony v UHV SLEEM.
[2D detection system for reflected electrons in UHV SLEEM.]
Interní kód: APL-2021-09 ; 2021
Technické parametry: Funkční vzorek 2D detekčního systému tvoří příruba s nosičem, na němž je uložena deska plošného spoje osazená senzorem a elektronickými součástkami. Součástí detektoru je řídící elektronika a obslužný software.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: pixelated detector * scanning * low energy electron microscopy * reflected electrons
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326005 - 8.0544223 - ÚPT 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Ma, Haili - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Yin, X. - Sun, F. - Piňos, Jakub - Vaškovicová, Naděžda - Průcha, Lukáš - Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Chen, D.
Imaging ferroelectric nanodomains in strained BiFeO3 nanoscale films using scanning low-energy electron microscopy: Implications for low-power devices.
ACS Applied Nano Materials. Roč. 4, č. 4 (2021), s. 3725-3733. ISSN 2574-0970
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low-energy electron microscopy (SLEEM) * BiFeO3 nanoscale films * ferroelectric nanodomains * low-loss backscattered electrons * multiferroic
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 6.140, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsanm.1c00204
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0321265 - 9.0519852 - ÚPT 2020 RS eng A - Abstrakt
Müllerová, Ilona - Daniel, Benjamin - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Materna Mikmeková, Eliška
Advanced techniques for low- and very-low energy SEM using reflected and transmitted signals.
MCM 2019. 14th Multinational Congress on Microscopy. Proceedings. Belgrade: University of Belgrade, 2019. s. 98-99. ISBN 978-86-80335-11-7.
[Multinational Congress on Microscopy /14./. 15.09.2019-20.09.2019, Belgrade]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very-low energy electron microscopy * very-low energy electron microscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0304834 - 10.0517435 - ÚPT 2020 PT eng A - Abstrakt
Průcha, Lukáš - Piňos, Jakub - Kizovský, Martin - Mikmeková, Eliška
Graphene surface analysis and layer counting using scanning low energy electron microscopy.
5th Edition of the European Graphene Forum 2019. Book of Abstracts. Lisbon: SETCOR, 2019.
[Edition of the European Graphene Forum 2019 /5./. 23.10.2019-25.10.2019, Lisbon]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene analysis * low energy electron microscopy * scanning electron microscopy * layer counting
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302742