Výsledky vyhledávání
- 1.0580429 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Řeřucha, Šimon - Holá, Miroslava - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Mikel, Břetislav
Optická a elektronická soustava laserového interferometru pro měření délek v řádu jednotek metrů.
[Optical and electronic system of a laser interferometer for measurement lengths in the metre range.]
Interní kód: APL-2023-10 ; 2023
Technické parametry: Rozsah měření >3 m, rozlišení měření 10pm, šum 0.12nm @ 10ms, šířka pásma detekce interferenčního signálu >1MHz, typ detekce: homodynní, přepočtená rychlost pohybu >35 mm/sec, relativní nejistota určení indexu lomu 0,21ppm, vlnová délka 633nm, relativní stabilita optické frekvence <0,025ppm @ 1hodina, absolutní určení vlnové délky <0,01 ppm.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Šimon Řeřucha, Ph.D., res@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW03010687
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: laser interferometer * dimensional metrology * inner dimension measurement * refractometer * homodyne interferometry * metre scale dimensional measurement
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349203 - 2.0422034 - ÚPT 2014 FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hucl, Václav - Čížek, Martin - Buchta, Zdeněk - Mikel, Břetislav - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
The precise refractive index of air measuring unit suitable for metrological scanning probe microscope.
NanoScale 2013. 10th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 6th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and methods.. Paris: Nanometrology Group, 2013, s. 109.
[NanoScale 2013. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /10./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /6./. Paris (FR), 25.04.2013-26.04.2013]
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1813; GA MPO FR-TI2/705; GA MPO FR-TI1/241; GA MŠMT EE2.4.31.0016
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: refractive index of air * precise measurement * laser interferometer
Kód oboru RIV: FP - Ostatní lékařské obory
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228283 - 3.0421237 - ÚPT 2014 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hucl, Václav - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Mikel, Břetislav - Řeřucha, Šimon - Buchta, Zdeněk - Jedlička, Petr - Lešundák, Adam - Oulehla, Jindřich - Mrňa, Libor - Šarbort, Martin - Šmíd, Radek - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
Automatic unit for measuring refractive index of air based on Ciddor equation and its verification using direct interferometric measurement method.
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII (Proceedings of SPIE Vol. 8788). Bellingham: SPIE, 2013, 878837:1-9. ISBN 978-0-8194-9604-1.
[Optical Measurement Systems for Industrial Inspection /8./. Munich (DE), 13.05.2013-16.05.2013]
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1813; GA ČR GPP102/11/P819
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: refractive index of air * precise measurement * laser interferometer
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227645 - 4.0385786 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hucl, Václav - Čížek, Martin - Buchta, Zdeněk - Mikel, Břetislav - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
The smart electronic unit for precise measurement of refractive index of air in a nano-positioning stage for scanning probe microscopy (SPM).
NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2012, s. 817-821. ISBN 978-80-87294-32-1.
[NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI2/705; GA MPO FR-TI1/241; GA ČR GAP102/10/1813
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: refractive index of air * precise measurement * laser interferometer
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215562 - 5.0337391 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Lazar, Josef - Mikel, Břetislav - Buchta, Zdeněk - Jedlička, Petr - Šmíd, Radek
Laserový komparační interferometr s kompenzovaným paralelogramem pro kalibrace stupnic délkových měřidel.
[The laser interferometer with balanced parallelogram for scale calibration of length sensors.]
Interní kód: 4641-2 ; 2009
Technické parametry: Interferometr umožňuje kalibrovat délková měřidla (např. indukčnostní a kapacitní snímače, optická pravítka) v měřicím rozsahu do 30 mm. Rozlišení nastavení polohy kalibrační sondy je pod úroveň 1 nm.
Ekonomické parametry: Spolupráce s průmyslem v rámci grantu MPO.
Grant CEP: GA MPO FT-TA3/133
Klíčová slova: laser interferometer
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0181401 - 6.0335629 - ÚPT 2010 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Číp, Ondřej - Šmíd, Radek - Mikel, Břetislav - Čížek, Martin - Růžička, Bohdan - Lazar, Josef
The femtosecond optical synthesizer as a too! for determination of the refractive index of air in ultra-precise measurement of lengths.
Fringe 2009 - 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology. Heidelberg: Springer, 2009, s. 269-274. ISBN 978-3-642-03050-5.
[Fringe 2009 - International Workshop on Advanced Optical Metrology /6./. Nürtinger (DE), 13.09.2009-16.09.2009]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT 2C06012; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO FT-TA3/133; GA MPO 2A-3TP1/113; GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GA102/07/1179
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: femtosecond optical synthesizer * measurement of lengths * laser interferometer
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180039 - 7.0335249 - ÚPT 2010 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Čížek, Martin - Šmíd, Radek - Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
Interferometric Nanoscale Comparator.
MOC'09 - 15th Microoptics Conference. Tokyo: Microoptics Group (OSJ/JSAP), 2009, s. 218-219. ISBN 978-4-86348-037-7.
[MOC'09 - Microoptics Conference /15./. Tokyo (JP), 25.10.2009-28.10.2009]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT 2C06012; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO FT-TA3/133; GA MPO 2A-3TP1/113; GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GA102/07/1179; GA ČR GP102/09/P630; GA AV ČR KAN311610701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: interferometric nanocomparator * laser interferometer
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179764 - 8.0205617 - UPT-D 20020162 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Petrů, František - Zemánek, Pavel - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
Iodine -stabilized He-Ne lasers at 633 nm for testing the vacuum wavelength of laser interferometers.
Jemná mechanika a optika. Roč. 48, č. 1 (2003), s. 10 - 16. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065013; GA ČR GA102/02/1318; GA AV ČR IAA2065202
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: He-Ne laser * laser interferometer
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101230 - 9.0205584 - UPT-D 20020134 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikel, Břetislav - Urban, F.
Laser head with VCSEL laser diode.
Proceedings of 8th conference EEICT 2002. Brno: FEKT VUT Brno, 2002, s. 208 - 212.
[EEICT 2002. Brno (CZ), 25.04.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065009; GA ČR GP102/02/P122; GA AV ČR IAB2065001; GA ČR GA102/02/1318
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: laser interferometer * VCSEL laser diode
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101197 - 10.0053538 - ÚPT 2007 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Číp, Ondřej - Mikel, Břetislav - Lazar, Josef
Fast wavelength-scanning interferometry technique with derivative detection of quadrature signals.
[Interferometrie s technikou rychlého přelaďovaní vlnové délky a derivační detekcí signálů v kvadratuře.]
Proceedings of SPIE (Vol. 6188) Optical Micro- and Nanometrology in Microsystems Technology. Bellingham: SPIE, 2006, 61881F:1-7. ISBN 9780819462442. ISSN 0277-786X.
[Optical Micro- and Nanometrology in Microsystems Technology. Strasbourg (FR), 05.03.2006]
Grant CEP: GA AV ČR IAB2065001
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: laser interferometer * quadrature signals
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0141781