Výsledky vyhledávání
- 1.0572553 - FZÚ 2024 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Willemsen, T. - Groß, T. - Gauch, M. - Ehlers, H. - Kramer, Daniel - Velpula, Praveen K. - Ebert, W.
Comparison of high power sputtered dielectric mirrors for PW laser.
Proceedings of SPIE. Vol. 12300. Bellingham: SPIE, 2022 - (Carr, C.; Ristau, D.; Menoni, C.), č. článku 123000H. ISSN 0277-786X.
[54th SPIE Laser Damage Symposium on Laser-Induced Damage in Optical Materials. Rochester (US), 18.09.2022-22.09.2022]
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: dielectric mirrors * ion beam sputtering (IBS) * large sized optics * LIDT optimized designs * PW-application * ultra-short pulse laser * laser optics
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/12300/2642134/Comparison-of-high-power-sputtered-dielectric-mirrors-for-PW-Laser/10.1117/12.2642134.short
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0343203 - 2.0560455 - ÚFP 2023 RIV PL eng J - Článek v odborném periodiku
Kanclíř, Vít - Václavík, Jan - Žídek, Karel
Precision of silicon oxynitride refractive-index profile retrieval using optical characterization.
Acta Physica Polonica A. Roč. 143, č. 3 (2021), s. 215-221. ISSN 0587-4246. E-ISSN 1898-794X
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) StrategieAV21/17
Program: StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Dual ion beam sputtering * Gradient refractive-index layers * Precision of optical characterization * Silicon oxynitride
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 0.725, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
http://przyrbwn.icm.edu.pl/APP/PDF/140/app140z3p04.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0333383 - 3.0542563 - ÚJF 2022 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Vacík, Jiří - Bakardjieva, Snejana - Horák, Pavel - Cannavó, Antonino - Ceccio, Giovanni - Lavrentiev, Vasyl - Fink, Dietmar - Plocek, Jiří - Kupčík, Jaroslav - Calcagno, L. - Klie, R.
Ion-beam-induced crystallization of radiation-resistant MAX phase nanostructures.
Radiation Effects and Defects in Solids. Roč. 176, 1-2 (2021), s. 119-137. ISSN 1042-0150. E-ISSN 1029-4953
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA18-21677S
Výzkumná infrastruktura: CANAM II - 90056
Institucionální podpora: RVO:61388980 ; RVO:61389005
Klíčová slova: ion beam sputtering * MAX/MXene phases * radiation-induced crystallization
Obor OECD: Nuclear physics; Inorganic and nuclear chemistry (UACH-T)
Impakt faktor: 1.024, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1080/10420150.2021.1891063
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0319950 - 4.0538506 - ÚACH 2021 RIV NL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Torrisi, A. - Horák, P. - Vacík, J. - Cannavo, A. - Ceccio, G. - Yatskiv, R. - Kupčík, Jaroslav - Fara, J. - Fitl, P. - Vlček, J. - Vrňata, M.
Preparation of heterogenous copper-titanium oxides for chemiresistor applications.
Materials Today: Proceedings. Vol. 33. Amsterdam: Elsevier, 2020, Roč. 33 (2020), s. 2512-2516. ISSN 2214-7853.
[Symposium M on Metal Oxide- and Oxyhydride-Based Nanomaterials for Energy and Environment-Related Applications of the E-MRS Fall Meeting. Warsaw (PL), 16.09.2019-19.09.2019]
Institucionální podpora: RVO:61388980
Klíčová slova: thermal-oxidation * Chemiresistors * Gas sensing * P-n heterojuntions * Ion beam sputtering * CuO * TiO2
Obor OECD: Inorganic and nuclear chemistry
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0316303 - 5.0538349 - ÚJF 2021 RIV NL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Torrisi, A. - Horák, Pavel - Vacík, Jiří - Cannavó, Antonino - Ceccio, Giovanni - Yatskiv, Roman - Kupčík, Jaroslav - Fara, J. - Fitl, P. - Vlček, J. - Vrňata, M.
Preparation of heterogenous copper-titanium oxides for chemiresistor applications.
Materials Today: Proceedings. Vol. 33. Amsterdam: Elsevier, 2020, s. 2512-2516. ISSN 2214-7853.
[Symposium M on Metal Oxide- and Oxyhydride-Based Nanomaterials for Energy and Environment-Related Applications of the E-MRS Fall Meeting. Warsaw (PL), 16.09.2019-19.09.2019]
Grant CEP: GA MŠMT LM2015056; GA ČR GA19-02804S
Institucionální podpora: RVO:61389005 ; RVO:67985882 ; RVO:67985858
Klíčová slova: chemiresistors * gas sensing * P-n heterojuntions * ion beam sputtering * CuO * TiO2
Obor OECD: Nuclear physics; Electrical and electronic engineering (URE-Y); Physical chemistry (UCHP-M)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0316160Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0538349.pdf 0 2 MB Vydavatelský postprint vyžádat - 6.0536206 - FZÚ 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Gordeev, Ivan - Paszuk, A. - Supplie, O. - Stoeckmann, J.P. - Houdková, Jana - Ukraintsev, Egor - Bartoš, Igor - Jiříček, Petr - Hannappel, T.
GaP/Si(001) interface study by XPS in combination with Ar gas cluster ion beam sputtering.
Applied Surface Science. Roč. 514, Jun (2020), s. 1-8, č. článku 145903. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760; GA MŠMT(CZ) LM2015088; GA ČR GC18-06970J
Grant ostatní: OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: GaP/Si heterostructure * buried interface analysis * XPS * depth profiling * gas cluster ion beam sputtering * interface core level shifts
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 6.707, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.145903
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314015 - 7.0524055 - ÚJF 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Horák, Pavel - Bakardjieva, Snejana - Vacík, Jiří - Rui, X. - Klie, R.
Preparation of Ti2C MXene phase by ion beam sputtering and ion irradiation.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 469, č. 4 (2020), s. 49-51. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA18-21677S
Institucionální podpora: RVO:61388980 ; RVO:61389005
Klíčová slova: MXenes * Ti2C * ion beam sputtering * ion irradiation
Obor OECD: Nuclear physics; Inorganic and nuclear chemistry (UACH-T)
Impakt faktor: 1.377, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.02.010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0308363 - 8.0523928 - ÚJF 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Vacík, Jiří - Horák, Pavel - Bakardjieva, Snejana - Bejšovec, Václav - Ceccio, Giovanni - Cannavó, Antonino - Torrisi, Alfio - Lavrentiev, Vasyl - Klie, R.
Ion sputtering for preparation of thin MAX and MXene phases.
Radiation Effects and Defects in Solids. Roč. 175, 1-2 (2020), s. 177-189. ISSN 1042-0150. E-ISSN 1029-4953
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA18-21677S
Institucionální podpora: RVO:61389005 ; RVO:61388980
Klíčová slova: ion beam sputtering * low energy ion facility * thin films * MAX and MXenes phases
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.); Inorganic and nuclear chemistry (UACH-T)
Impakt faktor: 1.141, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1080/10420150.2020.1718142
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0308218 - 9.0517818 - ÚJF 2020 RIV US eng A - Abstrakt
Horák, Pavel - Vacík, Jiří - Bakardjieva, Snejana - Cannavó, Antonino - Ceccio, Giovanni - Kupčík, Jaroslav - Klie, R.
Ion Beam Sputtering for Controlled Synthesis of Thin MAX (MXene) Phases.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 25, S2 (2019), s. 1626-1627. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
Grant CEP: GA MŠMT LM2015056; GA MŠMT(CZ) LTAUSA17128
Institucionální podpora: RVO:61388980 ; RVO:61389005
Klíčová slova: ion beam sputtering * LEIF
Obor OECD: Nuclear physics; Inorganic and nuclear chemistry (UACH-T)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303077 - 10.0517815 - ÚJF 2020 RIV US eng A - Abstrakt
Horák, Pavel - Bakardjieva, Snejana - Vacík, Jiří - Plocek, Jiří - Klie, R.
Ti-based MXenes: Preparation by Ion Beam Sputtering and Microstructural Evolution by Ion Irradiation.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 25, S2 (2019), s. 1628-1629. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA18-21677S; GA MŠMT LM2015056
Institucionální podpora: RVO:61388980 ; RVO:61389005
Klíčová slova: ion beam sputtering * Ti-based MXenes * ion irradiation
Obor OECD: Nuclear physics; Inorganic and nuclear chemistry (UACH-T)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303074