Výsledky vyhledávání
- 1.0501462 - FZÚ 2019 RIV CH eng M - Část monografie knihy
Ondráček, Martin - Hapala, Prokop - Švec, Martin - Jelínek, Pavel
Imaging charge distribution within molecules by scanning probe microscopy.
Kelvin probe force microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2018 - (Sadewasser, S.; Glatzel, T.), s. 499-518. Springer Series in Surface Sciences, 65. ISBN 978-3-319-75686-8
Grant CEP: GA ČR GJ17-24210Y
Grant ostatní: AV ČR(CZ) Praemium Academiae
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: charge distribution * surfaces * molecules * Kelvin probe force microscopy * scanning quantum dot microscopy * high resolution atomic force microscopy
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0293485 - 2.0434314 - FZÚ 2015 RIV AE eng J - Článek v odborném periodiku
Prokhorov, V.V. - Petrova, M.G. - Kovaleva, Natalia - Demikhov, E.I.
Atomic force and scanning near-field optical microscopy study of carbocyanine dye J-aggregates.
Current Nanoscience. Roč. 10, č. 5 (2014), s. 700-704. ISSN 1573-4137. E-ISSN 1875-6786
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: carbocyanine dye * elementary fibri * high-resolution atomic force microscopy * J-aggregate * probe microscopy * scanning near-field optical microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.096, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238393