Výsledky vyhledávání
- 1.0471014 - FGÚ 2017 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Šmít, Daniel - Fouquet, C. - Doulazmi, M. - Pincet, F. - Trembleau, A. - Zápotocký, Martin
BFPTool: a software tool for analysis of Biomembrane Force Probe experiments.
BMC Biophysics. Roč. 10, Feb (2017), č. článku 2. E-ISSN 2046-1682
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-16755S; GA MŠMT(CZ) 7AMB12FR002
Institucionální podpora: RVO:67985823
Klíčová slova: Biomembrane Force Probe * motion tracking * image analysis * force spectroscopy * cell mechanics
Obor OECD: Biophysics
Impakt faktor: 1.813, rok: 2017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0268506 - 2.0470931 - FZÚ 2017 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Ondráček, Martin - Hapala, Prokop - Jelínek, Pavel
Charge-state dynamics in electrostatic force spectroscopy.
Nanotechnology. Roč. 27, č. 27 (2016), 1-13, č. článku 274005. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-02079S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: atomic force microscopy * electron tunneling * redox nanoswitches * electrostatic force spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.440, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0268432 - 3.0451941 - FZÚ 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Moreno, C. - Stetsovych, Oleksandr - Shimizu, T.K. - Custance, O.
Imaging three-dimensional surface objects with submolecular resolution by atomic force microscopy.
Nano Letters. Roč. 15, č. 4 (2015), s. 2257-2262. ISSN 1530-6984. E-ISSN 1530-6992
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: noncontact atomic force microscopy (NC-AFM) * submolecular resolution * three-dimensional dynamic force spectroscopy * high-resolution imaging
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 13.779, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253003 - 4.0448935 - ÚMCH 2016 DE eng A - Abstrakt
Rodriguez-Emmenegger, Cesar
Antifouling polymer brushes to control biofouling.
Poster Abstracts. Aachen: DWI – Leibniz Institute for Interactive Materials, 2015. s. 44.
[Kármán Conference: From Molecular Materials to Complex Adaptive Molecular Systems. 11.10.2015-15.10.2015, Vaalsbroek]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GJ15-09368Y
Institucionální podpora: RVO:61389013
Klíčová slova: polymer brushes * single cell force spectroscopy * blood
Kód oboru RIV: BO - Biofyzika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0250756 - 5.0446174 - ÚMCH 2016 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Rodriguez-Emmenegger, Cesar - Janel, S. - de los Santos Pereira, Andres - Bruns, M. - Lafont, F.
Quantifying bacterial adhesion on antifouling polymer brushes via single-cell force spectroscopy.
Polymer Chemistry. Roč. 6, č. 31 (2015), s. 5740-5751. ISSN 1759-9954. E-ISSN 1759-9962
Grant CEP: GA ČR(CZ) GJ15-09368Y; GA MŠMT(CZ) ED1.1.00/02.0109
Grant ostatní: OPPK(XE) CZ.2.16/3.1.00/21545
Program: OPPK
Institucionální podpora: RVO:61389013
Klíčová slova: antifouling polymer brushes * single-cell force spectroscopy * bacterial adhesion
Kód oboru RIV: BO - Biofyzika
Impakt faktor: 5.687, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0248659 - 6.0399906 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sugimoto, Y. - Yurtsever, A. - Abe, M. - Morita, S. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Perez, R. - Jelínek, Pavel
Role of tip chemical reactivity on atom manipulation process in dynamic force microscopy.
ACS Nano. Roč. 7, č. 8 (2013), s. 7370-7376. ISSN 1936-0851. E-ISSN 1936-086X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: noncontact atomic force microscopy * atomic manipulation * force spectroscopy * chemical interaction force * DFT simulations * nudged elastic band
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 12.033, rok: 2013
http://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/nn403097p
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227065 - 7.0391642 - ÚMCH 2014 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Knotek, P. - Chánová, Eliška - Rypáček, František
AFM imaging and analysis of local mechanical properties for detection of surface pattern of functional groups.
Materials Science & Engineering C-Materials for Biological Applications. Roč. 33, č. 4 (2013), s. 1963-1968. ISSN 0928-4931. E-ISSN 1873-0191
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/1857; GA ČR GPP108/12/P624
Institucionální podpora: RVO:61389013
Klíčová slova: phase shift image * AFAM * force spectroscopy
Kód oboru RIV: CD - Makromolekulární chemie
Impakt faktor: 2.736, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0221255 - 8.0389163 - FZÚ 2013 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Majzik, Zsolt - Setvín, Martin - Bettac, A. - Feltz, A. - Cháb, Vladimír - Jelínek, Pavel
Simultaneous current, force and dissipation measurements on the Si(111) 7x7 surface with an optimized qPlus AFM/STM technique.
Beilstein Journal of Nanotechnology. Roč. 3, March (2012), s. 249-259. ISSN 2190-4286. E-ISSN 2190-4286
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA ČR GAP204/10/0952; GA AV ČR IAA100100905; GA MŠMT(CZ) ME10076
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: AFM * STM * cross-talk * specific-site force spectroscopy * atomic resolution
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.374, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0218060 - 9.0386566 - FZÚ 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Yurtsever, A. - Fernandez-Torre, D. - González, C. - Jelínek, Pavel - Pou, P. - Sugimoto, Y. - Abe, M. - Pérez, R. - Morita, S.
Understanding image contrast formation in TiO2 with force spectroscopy.
Physical Review. B. Roč. 85, č. 12 (2012), "125416-1"-"125416-9". ISSN 1098-0121
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ME10076
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: DFT * AFM * force spectroscopy * atomic resolution
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.767, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215860 - 10.0328715 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Pou, P. - Ghasemi, S.A. - Jelínek, Pavel - Lenosky, T. - Goedecker, S. - Perez, R.
Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy.
[Struktura a stabilita polovodičových hrotů pro mikroskop atomárních sil.]
Nanotechnology. Roč. 20, č. 26 (2009), 264015/1-264015/10. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Grant CEP: GA AV ČR KAN400100701; GA AV ČR IAA100100905
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: AFM * first principles simulations * DFT * force spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.137, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0174960